[发明专利]角度测量系统

权利要求书

1.一种角度测量系统，包括第一构件组(1)和第二构件组(2)，其中，所述第一构件组(1)以相对于所述第二构件组(2)可绕轴线(A)旋转的方式支承，并且

-所述第一构件组(1)具有带有工作面(1.14)的环(1.1)和角度刻度(1.21)，

-所述第二构件组(2)具有用于探测所述角度刻度(1.2)的传感器(2.2)，以及带有电子线路(2.31)的用于评估可通过探测生成的所述传感器(2.2)的信号的电路板(2.3)，其中，

所述第二构件组(2)包括实心环(2.1)，

-在所述环(2.1)处布置有另一工作面(2.14)，并且

-所述环(2.1)具有用于容纳所述电路板(2.3)的第一凹口(2.11)以及用于容纳电导体(2.4)的第二凹口(2.12)，其中

所述导体(2.4)将所述传感器(2.2)与相对于所述传感器(2.3)隔开布置的所述电子线路(2.31)以电的方式连接。

2.根据权利要求1所述的角度测量系统，其特征在于，所述第二构件组(2)的环(2.1)的第一凹口(2.11)在平行于所述轴线(A)的方向上的伸展(H)大于所述第一凹口(2.11)在周缘方向上的伸展(U)。

3.根据权利要求1或2所述的角度测量系统，其特征在于，所述第二构件组(2)的环(2.1)具有用于容纳所述传感器(2.2)的第三凹口(2.13)。

4.根据上述权利要求中任一项所述的角度测量系统，其特征在于，所述第二构件组(2)的环(2.1)设计为金属环、尤其为钢环。

5.根据上述权利要求中任一项所述的角度测量系统，其特征在于，相应地基于平行于所述轴线(A)的方向，所述第一凹口(2.11)的伸展(H)大于所述第二凹口(2.12)的伸展(h)。

6.根据上述权利要求中任一项所述的角度测量系统，其特征在于，所述电导体(2.4)具有带有不同外部尺寸(B，d)的截面，其中，所述电导体(2.4)的较大的外部尺寸(B)在平行于所述轴线(A)的方向上布置。

7.根据上述权利要求中任一项所述的角度测量系统，其特征在于，所述第一凹口(2.11)如此地设计，即，所述电路板(2.3)可在朝向所述轴线(A)的方向上插入到所述第一凹口(2.11)中。

8.根据上述权利要求中任一项所述的角度测量系统，其特征在于，所述第三凹口(2.13)如此地设计，即，所述传感器(2.2)可在远离所述轴线(A)的方向上插入到所述第三凹口(2.13)中。

9.根据上述权利要求中任一项所述的角度测量系统，其特征在于，所述角度刻度(2.12)以平行于所述轴线(A)的方向分量而取向。

10.根据上述权利要求中任一项所述的角度测量系统，其特征在于，所述角度刻度(1.2)由带有不同磁极化的区域组成。

11.根据权利要求10所述的角度测量系统，其特征在于，所述传感器(2.2)设计为MR传感器或霍尔传感器。

12.根据上述权利要求中任一项所述的角度测量系统，其特征在于，所述第一构件组(1)和所述第二构件组(2)以及滚动体(3)如此地设计，即，所述第一构件组(1)和所述第二构件组(2)布置成轴向彼此无间隙。

13.根据上述权利要求中任一项所述的角度测量系统，其特征在于，所述第一构件组(1)和所述第二构件组(2)分别具有两个工作面(1.14，2.14)，在所述工作面(1.14，2.14)之间分别布置有滚动体(3)，其中，所述角度刻度(1.21)轴向上布置在所述工作面(1.14，2.14)之间。