[发明专利]制造发光器件的方法有效

专利信息
申请号: 200980102761.5 申请日: 2009-01-21
公开(公告)号: CN101926012A 公开(公告)日: 2010-12-22
发明(设计)人: 赵成龙 申请(专利权)人: LG伊诺特有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 夏凯;谢丽娜
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 制造 发光 器件 方法
【权利要求书】:

1.一种用于制造发光器件的方法,所述方法包括:

制备晶体生长表面具有a-面或m-面的衬底;

在所述衬底上形成缓冲层;

在所述缓冲层上形成半导体层;以及

通过去除所述缓冲层,分离所述半导体层与所述衬底。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述衬底包括非极性衬底。

3.根据权利要求1所述的方法,在分离所述半导体层之前,包括:

在所述半导体层上形成第一电极层,以及在所述第一电极层上形成支撑衬底,以及

在通过去除所述衬底而暴露的半导体层上形成第二电极层。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述缓冲层包括金属、金属氮化物、金属碳化物和金属氧化物之一。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述缓冲层包括沟槽。

6.一种用于制造发光器件的方法,所述方法包括:

制备衬底;

在所述衬底上形成图案;

在具有所述图案的衬底上形成半导体层;以及

通过利用所述图案作为基底来分离所述半导体层与所述衬底。

7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述图案的面包括平行条状图案、具有多个矩形沟槽的图案和圆形图案之一。

8.根据权利要求6所述的方法,包括:

在具有所述图案的衬底上形成第一缓冲层。

9.根据权利要求8所述的方法,包括:

在所述第一缓冲层上形成第二缓冲层,以及

在所述第二缓冲层上形成半导体层。

10.根据权利要求6所述的方法,在所述缓冲层上形成所述半导体层之后,包括:

通过单元器件分离区来分离所述半导体层。

11.根据权利要求10所述的方法,其中,所述单元器件分离区部分地对应于至少在所述衬底上的图案。

12.根据权利要求10所述的方法,进一步包括:

在分成所述单元器件的半导体层上形成第一电极;

在所述第一电极上形成支撑衬底;

通过利用所述第一缓冲层作为基底来去除所述衬底;以及

在通过去除所述衬底而暴露的半导体层上形成第二电极。

13.根据权利要求10所述的方法,在通过单元器件分离区分离所述半导体层之后,包括:

在暴露的半导体层的至少一部分上形成钝化层。

14.一种用于制造发光器件的方法,所述方法包括:

制备衬底;

在所述衬底上形成第一缓冲层;

在具有所述第一缓冲层的衬底上形成图案;

在具有所述图案的衬底上形成半导体层;以及

通过利用所述图案作为基底来分离所述半导体层与所述衬底。

15.根据权利要求14所述的方法,包括:

在具有所述图案的第一缓冲层上形成第二缓冲层;以及

在所述第二缓冲层上形成所述半导体层。

16.根据权利要求14所述的方法,在形成所述半导体层之后,包括:

通过单元器件分离区来分离所述半导体层,

其中,所述单元器件分离区对应于至少在衬底上的图案。

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