[发明专利]制造发光器件的方法有效
| 申请号: | 200980102761.5 | 申请日: | 2009-01-21 |
| 公开(公告)号: | CN101926012A | 公开(公告)日: | 2010-12-22 |
| 发明(设计)人: | 赵成龙 | 申请(专利权)人: | LG伊诺特有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 夏凯;谢丽娜 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 制造 发光 器件 方法 | ||
1.一种用于制造发光器件的方法,所述方法包括:
制备晶体生长表面具有a-面或m-面的衬底;
在所述衬底上形成缓冲层;
在所述缓冲层上形成半导体层;以及
通过去除所述缓冲层,分离所述半导体层与所述衬底。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述衬底包括非极性衬底。
3.根据权利要求1所述的方法,在分离所述半导体层之前,包括:
在所述半导体层上形成第一电极层,以及在所述第一电极层上形成支撑衬底,以及
在通过去除所述衬底而暴露的半导体层上形成第二电极层。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述缓冲层包括金属、金属氮化物、金属碳化物和金属氧化物之一。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述缓冲层包括沟槽。
6.一种用于制造发光器件的方法,所述方法包括:
制备衬底;
在所述衬底上形成图案;
在具有所述图案的衬底上形成半导体层;以及
通过利用所述图案作为基底来分离所述半导体层与所述衬底。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述图案的面包括平行条状图案、具有多个矩形沟槽的图案和圆形图案之一。
8.根据权利要求6所述的方法,包括:
在具有所述图案的衬底上形成第一缓冲层。
9.根据权利要求8所述的方法,包括:
在所述第一缓冲层上形成第二缓冲层,以及
在所述第二缓冲层上形成半导体层。
10.根据权利要求6所述的方法,在所述缓冲层上形成所述半导体层之后,包括:
通过单元器件分离区来分离所述半导体层。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,所述单元器件分离区部分地对应于至少在所述衬底上的图案。
12.根据权利要求10所述的方法,进一步包括:
在分成所述单元器件的半导体层上形成第一电极;
在所述第一电极上形成支撑衬底;
通过利用所述第一缓冲层作为基底来去除所述衬底;以及
在通过去除所述衬底而暴露的半导体层上形成第二电极。
13.根据权利要求10所述的方法,在通过单元器件分离区分离所述半导体层之后,包括:
在暴露的半导体层的至少一部分上形成钝化层。
14.一种用于制造发光器件的方法,所述方法包括:
制备衬底;
在所述衬底上形成第一缓冲层;
在具有所述第一缓冲层的衬底上形成图案;
在具有所述图案的衬底上形成半导体层;以及
通过利用所述图案作为基底来分离所述半导体层与所述衬底。
15.根据权利要求14所述的方法,包括:
在具有所述图案的第一缓冲层上形成第二缓冲层;以及
在所述第二缓冲层上形成所述半导体层。
16.根据权利要求14所述的方法,在形成所述半导体层之后,包括:
通过单元器件分离区来分离所述半导体层,
其中,所述单元器件分离区对应于至少在衬底上的图案。
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