[实用新型]电学测试架无效

专利信息
申请号: 200920304080.4 申请日: 2009-06-08
公开(公告)号: CN201477125U 公开(公告)日: 2010-05-19
发明(设计)人: 沈晓明 申请(专利权)人: 沈晓明
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 郭俊玲
地址: 226200 江苏省启*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 电学 测试
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种测试装置,尤其涉及一种电学测试架。

背景技术

目前电学上对信号放大器等测试时,是将被测物水平放置,这样在测量时对被测物不容易固定,测量精度往往达不到要求;而将被测物垂直放置测试时,对测试高度的调节难以控制。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种装夹方便,测试准确的电学测试架。

本实用新型采用的技术方案是:

一种电学测试架,包括测试平台、固定在测试平台上的调节杆和一端套接在调节杆上的升降杆,该升降杆的另一端开有测试孔,在测试平台上与测试孔相对应处开有测试底孔;在升降杆与调节杆套接的一侧设有可调节升降杆升降的调节装置,所述测试平台上设有可拆卸的小支架,该小支架上开有与测试孔和测试底孔相对应的测试固定孔,该测试固定孔的一侧设有固定装置。

所述小支架底部固定有关于测试固定孔直径相对称的两个脚销,该脚销与测试平台上开在测试底孔两侧的脚孔相插接。

所述脚销通过螺纹与小支架固定连接。

所述调节装置由平头螺钉I和螺母I组成,该螺母I与调节杆相平行设置在升降杆内,所述平头螺钉I通过升降杆开有的导向孔I与螺母I相配合。

所述固定装置由平头螺钉II和螺母II组成,该螺母II与测试固定孔相平行设置在小支架内,所述平头螺钉II通过小支架上开有的导向孔II与螺母II相配合。

所述测试平台上设有至少三个围绕测试底孔等距分布的安装脚。

所述调节装置可根据测试物所需测试高度的要求,调节高度,保证测试的精度,尤其是该装置通过平头螺钉I的调节,使得调节方便、快速。

所述测试平台测试底孔两侧设有两个脚孔,该脚孔上安装有可拆卸的小支架,该小支架上开有与测试孔和测试底孔相对应的测试固定孔,该测试固定孔的一侧设有固定装置,这样使得本实用新型对被测物测试时的装夹比较方便可靠,对测试精度有一定的保证。尤其是测试平台上设有至少三个围绕测试底孔等距分布的安装脚,这样不仅可对较小的被测物测试,还可以对较大的被测物进行测试,提高了本实用新型的使用范围。

本实用新型的优点:对被测物测试时装夹方便,测试准确,提高了测试效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型的小支架结构示意图。

图3为本实用新型测试较小测试物的结构示意图。

图4为本实用新型升降杆结构示意图。

其中,1、调节杆,2、平头螺钉I,3、升降杆,4、测试平台,5、安装脚,6、测试固定孔,7、小支架,8、平头螺钉II,9、脚销,10、脚孔,11、测试底孔,12、测试孔,13、螺母II,14、导向孔II,15、螺母I,16、导向孔I。

具体实施方式

如图1、图2和图4所示,一种电学测试架,包括测试平台4、固定在测试平台4上的调节杆1和一端套接在调节杆1上的升降杆3,该升降杆3的另一端开有测试孔12,在测试平台4上与测试孔12相对应处开有测试底孔11;在升降杆3与调节杆1套接的一侧设有可调节升降杆3升降的调节装置,该调节装置由平头螺钉I2和螺母I15组成,该螺母I15与调节杆1相平行设置在升降杆3内,平头螺钉?通过升降杆3开有的导向孔I16与螺母I15相配合;测试平台4上开有在测试底孔11两侧的脚孔10,该脚孔10上插接有脚销9,脚销9通过螺纹固定有可拆卸的小支架7,该小支架7上开有与测试孔12和测试底孔11相对应的测试固定孔6,该测试固定孔6的一侧设有固定装置,该固定装置由平头螺钉II8和螺母II13组成,该螺母II13与测试固定孔6相平行设置在小支架7内,平头螺钉II8通过小支架7上开有的导向孔II14与螺母II13相配合。

测试平台4上设有至少三个围绕测试底孔11等距分布的安装脚5。

本实用新型是这样运作的:将被测物放入小支架7测试固定孔6中,拧紧平头螺钉II8固定被测物,根据被测物所需测试高度,调节平头螺钉I2调节升降杆3的高度,调节好后将测试装置通过测试孔12,即可对被测物进行测试。

当被测物较大时,可对本实用新型如图3所示的调整,将小支架7拆卸下,将被测物安装在安装脚5上,根据被测物所需测试高度,调节平头螺钉I2调节升降杆3的高度,调节好后将测试装置通过测试孔12,即可对被测物进行测试。

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