[实用新型]电学测试架无效

专利信息
申请号: 200920304080.4 申请日: 2009-06-08
公开(公告)号: CN201477125U 公开(公告)日: 2010-05-19
发明(设计)人: 沈晓明 申请(专利权)人: 沈晓明
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 郭俊玲
地址: 226200 江苏省启*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 电学 测试
【权利要求书】:

1.一种电学测试架,包括测试平台、固定在测试平台上的调节杆和一端套接在调节杆上的升降杆,该升降杆的另一端开有测试孔,在测试平台上与测试孔相对应处开有测试底孔,其特征在于:在升降杆与调节杆套接的一侧设有可调节升降杆升降的调节装置,所述测试平台上设有可拆卸的小支架,该小支架上开有与测试孔和测试底孔相对应的测试固定孔,该测试固定孔的一侧设有固定装置。

2.根据权利要求1所述的电学测试架,其特征在于:所述小支架底部固定有与测试固定孔直径相对称的两个脚销,该脚销与测试平台上开在测试底孔两侧的脚孔相插接。

3.根据权利要求2所述的电学测试架,其特征在于:所述脚销通过螺纹与小支架固定连接。

4.根据权利要求1所述的电学测试架,其特征在于:所述调节装置由平头螺钉I和螺母I组成,该螺母I与调节杆相平行设置在升降杆内,所述平头螺钉I通过升降杆开有的导向孔I与螺母I相配合。

5.根据权利要求1所述的电学测试架,其特征在于:所述固定装置由平头螺钉II和螺母II组成,该螺母II与测试固定孔相平行设置在小支架内,所述平头螺钉II通过小支架上开有的导向孔II与螺母II相配合。

6.根据权利要求1所述的电学测试架,其特征在于:所述测试平台上设有至少三个围绕测试底孔等距分布的安装脚。

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