[实用新型]折叠梁式双向微惯性传感器无效
| 申请号: | 200920295508.3 | 申请日: | 2009-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN201569670U | 公开(公告)日: | 2010-09-01 |
| 发明(设计)人: | 董林玺;颜海霞;李永杰 | 申请(专利权)人: | 杭州电子科技大学 |
| 主分类号: | G01P15/125 | 分类号: | G01P15/125;B81B7/02 |
| 代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人: | 杜军 |
| 地址: | 310018 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 折叠 双向 惯性 传感器 | ||
1.折叠梁式双向微惯性传感器,包括正方形的硅质量块、锚点、蛇形折叠硅支撑梁、玻璃衬底、铝电极、阻尼梳齿,其特征在于:
硅质量块四个角上分别设置有四根蛇形折叠硅支撑梁梁,四根蛇形折叠硅支撑梁分别与四个锚点固定连接,硅质量块通过四根蛇形折叠硅支撑梁和四个锚点架设在玻璃衬底上;
硅质量块上设置有两个用于X方向敏感检测的栅形槽和两个用于Y方向敏感检测的栅形槽;用于X方向敏感检测的栅形槽和用于Y方向敏感检测的栅形槽成田字形交错排列;
玻璃衬底上设置有四个检测模块,分别为通过铝线连接的两个X方向检测模块和通过铝线连接的两个Y方向检测模块,所述的检测模块为玻璃衬底上的栅形铝电极;
硅质量块上的两个用于X方向敏感检测的栅形槽分别与玻璃衬底上设置的两个X方向检测模块位置对应,构成两组X方向检测差分检测电容;硅质量块上的两个用于Y方向敏感检测的栅形槽分别与玻璃衬底上设置的两个Y方向检测模块位置对应,构成两组Y方向检测差分检测电容;
硅质量块上的用于X方向敏感检测的栅形槽和用于Y方向敏感检测的栅形槽在X和Y方向上完全对称;
所述的阻尼梳齿分布在硅质量块的边框四周,X方向的各个阻尼梳齿间通过铝连接线连接,Y方向的各个阻尼梳齿间通过铝连接线连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州电子科技大学,未经杭州电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200920295508.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





