[实用新型]一种常规X射线照相叶片测厚装置无效
申请号: | 200920247921.2 | 申请日: | 2009-11-09 |
公开(公告)号: | CN201697617U | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | 张孝玲;熊瑛;段占峰;董德秀;张德全;胡东清 | 申请(专利权)人: | 沈阳黎明航空发动机(集团)有限责任公司 |
主分类号: | G01B15/02 | 分类号: | G01B15/02 |
代理公司: | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人: | 樊南星 |
地址: | 110043 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 常规 射线 照相 叶片 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及无损检测技术领域,特别提供了一种常规X射线照相叶片测厚装置。
背景技术
高压涡轮叶片是发动机上的重要零件,叶片的壁厚的减薄会对叶片的使用造成影响,进而影响飞机的安全,因此不论是新研制的叶片还是使用中的叶片都需要进行叶片壁厚的测量。
对空心叶片的壁厚测量主要是采用超声方法。叶片一般有3-5个关键截面,用超声检测方法测叶片壁厚,叶片上的点几乎都没有问题,但对叶片的进气边的测量,超声测厚将受到曲率半径的影响,当叶片表面曲率半径小于5mm时,超声很难定位,误差较大。
国内外资料提出关于叶片测厚在射线检测中的应用。当物体的外形允许使用射线照相时,射线照相也是厚度测量的一种较好方法。
为了解决叶片表面曲率半径小于5mm处壁厚的测量,人们渴望获得一种技术效果更好的常规X射线照相叶片测厚装置,尤其是要求保证测厚结果的准确性和可靠性。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供技术效果更好的常规X射线照相叶片测厚装置。本实用新型主要是为了解决由于叶片进行气边曲率半径太小,超声方法不能满足标准要求。通过该装置使叶片进气边的测厚方法满足标准文件的要求,解决生产的急需,同时扩展X射线检测技术的应用范围。
本实用新型提供了一种常规X射线照相叶片测厚装置,其特征在于:所述常规X射线照相叶片测厚装置包含有如下组成部分:底座1、模板2;其中:底座1上侧面为基本形状为长方形的平面结构;
模板2主体部分是板状结构,模板2固定在底座1的上侧面上或者底座1中与底座1上侧面垂直的底座1的后侧面上;且模板2的主体部分与底座1的上侧面布置;同时,模板2上设置有用于放置叶片榫头的向上方开口的榫头放置槽201。
所述常规X射线照相叶片测厚装置还要求保护下述优选内容:
所述设置在模板2上的榫头放置槽201具体要求是:榫头放置槽201为上部开口的条状槽,榫头放置槽201的主体部分与底座1的上侧面之间夹角为55°~67°,进一步优选的夹角范围为60.5°~61.5°。
所述常规X射线照相叶片测厚装置还包含有垫板3;垫板3布置在底座1的上侧面上,其主体部分与底座1的主体部分平行布置。
所述垫板3的厚度为1~15mm。
所述底座1上侧面的长方体平面结构的两端还可以设置有3对共6块定位块6,所述每对定位块6中的2块分别布置在底座1上侧面的两端,每对定位块6的对应边连线都与模板2靠近底座1的侧面平行。
所述底座1通过其侧面与模板2固定连接,具体连接方式优选是螺纹连接。同时,所述底座1与模板2之间设置有用于保证二者之间定位关系的销钉5,所述销钉5具体为2个。
本实用新型在无损检测技术领域,创造性地设计了一种常规叶片射线测厚技术。目前,国内还没有用常规的射线方法测量叶片进气边的壁厚。采用特殊的定位装置,克服了传统工艺方法难以达到的技术要求,实现某机空心叶片进气边δ7点壁厚的测量,填补国内空白。
因为在进行射线照相检测时,首先要考虑射线的透照角度,射线束应垂直于被透照部位,由于叶片的特殊结构,如果没有定位装置,无法保证透照角度的准确性及可重复性。同时,为了保证测量点在底片上真实显示,工装的设计非常重要,即要保证射线的透照角度又要保证被测量点定位的准确性。通过大量的试验已验证该技术可以保证空心叶片进气边δ7点壁厚的测量。
共检测了65件叶片,测量了325个点,并在其中随机抽出3个叶片,按照5个截面进行剖切,剖切后送计量中心测量出各截面点的实测值,该值与射线方法检测结果吻合。
通过该课题的研究,可以满足俄罗斯大修卷对高涡叶片进气边δ7点壁厚测量的要求,解决了某大修生产的急需,同时扩展射线检测技术的应用范围。每年可节约外汇2万美元以上。
因为本实用新型所述常规射线法叶片测厚技术目前在国内没有使用,市场前景非常可观。
附图说明
下面结合附图及实施方式对本实用新型作进一步详细的说明:
图1为常规X射线照相叶片测厚装置结构原理构成示意图主视图;
图2为常规X射线照相叶片测厚装置结构原理构成示意图俯视图;
图3为常规X射线照相叶片测厚装置结构原理构成示意图左视图;
图4为X射线照相叶片测厚原理示意图;
图5为X射线照相叶片测厚截面示意图;
图6为通过X光底片显示的测量部位及方法示意图;
图7为根据表4测量数据绘制出的叶片A的X射线、超声、实际测量方法的折线图;
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