[实用新型]芯片测试夹具

权利要求书

1.一种芯片测试夹具，用于固定待测解封装芯片，该芯片测试夹具包括一底座，其上设有容纳槽，用于放置解封装芯片，其特征在于：该夹具还包括一电路板和一上盖，其中，所述电路板上设有磁铁装置；而所述上盖主体上一端设有一测试孔，另一端设有与电路板上的磁铁装置相对应的吸铁装置，当该上盖主体扣合被测试的解封装芯片时，通过该测试孔可固定该解封装芯片，且使其内部结构得以暴露。

2.如权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于：所述测试孔分为上、下两部分，其中，下部分设有一大于上部分通孔的凸台。

3.如权利要求2所述的芯片测试夹具，其特征在于：所述测试孔下部分的固定凸台正对着底座中的容纳槽。

4.如权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于：所述上盖设有一观孔槽，所述测试孔设于该观孔槽上。

5.如权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于：所述磁铁装置是由在电路板上的一通孔内装设一磁铁石构成。

6.如权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于：所述吸铁装置是由上盖一端的通孔内装设一磁铁石构成。

7.如权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于：所述上盖主体向电路板扣合时，其上的磁铁装置和吸铁装置通过互相吸引而使其扣合。

8.如权利要求1或6所述的芯片测试夹具，其特征在于：所述上盖的吸铁装置位于该上盖的把手部附近。

9.如权利要求1所述的芯片测试夹具，其特征在于：所述底座设于一PCB板上，该PCB板固定在所述电路板内。

10.如权利要求9所述的芯片测试夹具，其特征在于：所述PCB板上设有接焊在其上的若干排针。