[实用新型]一种电源管理芯片测试装置

说明书

技术领域

本实用新型属于芯片测试的技术领域，尤其涉及一种电源管理芯片测试装置。

背景技术

随着集成电路设计业的兴旺，使得社会对芯片测试的需求也越来越大，对芯片测试既是集成电路产业链中的一环，也是集成电路产品验证出厂的关键。

目前，还没有开发出专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置，所以现在都采用通用测试装置对电源管理芯片进行测试，这样对于只生产电源管理芯片的生产商来说，不仅操作复杂、不方便，而且成本较高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电源管理芯片测试装置，旨在解决现在没有开发出专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置的问题。

本实用新型是这样实现的，一种电源管理芯片测试装置，所述装置包括：

用于装载被测芯片的探针台；

对被测芯片的电气参数进行采集的针卡；

与所述针卡连接，根据针卡采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元；

分别与所述测试单元和探针台连接的主控模块，根据所述测试结果信号并输出控制信号，控制所述探针台的位移；

分别为所述测试单元和主控模块提供电源的直流稳压电源模块；

与所述主控模块连接，为其输入控制信号的输入模块；以及

与所述主控模块连接，显示测试结果的显示模块；

上述结构中，所述测试单元包括：

根据所述针卡采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块；

根据所述针卡采集的电气参数，输出电压测试结果信号或电流测试结果信号的电压/电流测试模块；

根据所述针卡采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块；

根据所述针卡采集的电气参数，输出基准电压测试结果信号的基准电压测试模块；

根据所述针卡采集的电气参数，输出开关功能测试结果信号的开关功能测试模块；以及

根据所述针卡采集的电气参数，输出脉宽调制频率测试结果信号的脉宽调制频率测试模块；

上述结构中，所述装置还包括：

分别与所述直流稳压电源模块、针卡和测试单元连接的修调模块，所述修调模块根据所述测试单元生成的测试结果信号，生成校正所述被测芯片的电气参数的修调信号，并通过针卡输出给所述被测芯片；

上述结构中，所述主控模块包括：

分别与所述直流稳压电源模块、测试单元、显示模块和输入模块连接的微处理器；以及

分别与所述微处理器和探针台连接的TTL通讯电路；

上述结构中，所述微处理器为MSP430单片机；

上述结构中，所述输入模块是键盘输入模块或触摸屏输入模块；

上述结构中，所述显示模块是LCD显示模块。

在本实用新型中，电源管理芯片测试装置是专门针对电源管理芯片进行测试的测试装置，这种测试装置对于只生产电源管理芯片的生产商来说，不仅操作简单、方便，而且降低了成本。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的电源管理芯片测试装置的结构图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

图1示出了本实用新型实施例提供的电源管理芯片测试装置的结构，为了便于说明，仅示出了与本实用新型相关的部分。

电源管理芯片测试装置包括用于装载被测芯片的探针台100；对被测芯片的电气参数进行采集的针卡200；与针卡200连接，根据针卡200采集的电气参数进行处理，输出测试结果信号的测试单元300，作为本实用新型一实施例，测试单元300包括：根据针卡200采集的电气参数，输出接触测试结果信号的接触测试模块301；根据针卡200采集的电气参数，输出电压测试结果信号或电流测试结果信号的电压/电流测试模块302；根据针卡200采集的电气参数，输出频率测试结果信号的频率测试模块303；根据针卡200采集的电气参数，输出基准电压测试结果信号的基准电压测试模块304；根据针卡200采集的电气参数，输出开关功能测试结果信号的开关功能测试模块305；以及根据针卡200采集的电气参数，输出脉宽调制频率测试结果信号的脉宽调制频率测试模块306。