[发明专利]光集成元件、光检测方法、光拾取器以及光盘装置

说明书

技术领域

本发明涉及光集成元件、光检测方法、光拾取器以及光盘装置， 例如适用于向光盘记录信息并且从该光盘再现信息的光盘装置。

背景技术

以往，在光盘装置中，如下光盘装置得到了广泛普及：从搭载于 光拾取器中的激光二极管中射出光束，经由物镜将该光束照射到光 盘，并且读取其反射光，从而再现信息。

另外，在光盘装置中，对该光盘照射光束，使该光盘的局部的反 射率等变化，从而可以进行信息的记录。

一般，光盘装置通过进行物镜的伺服控制，使光束的焦点对准光 盘中的期望的目标位置。

实际上，光盘装置根据反射光的受光结果，生成表示聚焦方向以 及跟踪方向上的光束的焦点位置与目标位置的偏离量的聚焦错误信 号以及跟踪错误信号。另外，聚焦方向表示接近或远离光盘的方向， 跟踪方向表示光盘的半径方向。

光盘装置使用该聚焦错误信号以及跟踪错误信号来进行物镜的 伺服控制。即，在光盘装置中，该聚焦错误信号、跟踪错误信号等错 误信号中的质量左右伺服控制的精度。

特别，在光盘装置中，知道通过向跟踪方向的伺服控制而物镜向 跟踪方向移动、即产生了所谓的透镜移位(lens shift)的情况下，反 射光的受光位置也移动，所以错误信号的质量降低。

因此，在光盘装置中，提出了如下光盘装置：故意地截断或分离 反射光的一部分并通过多个受光区域受光，从而检测透镜移位量，使 其反映在各错误信号中，由此提高质量(例如参照专利文献1)。

专利文献1：日本特开2007-265595号公报(图5)

在上述光盘装置中，可以通过使用衍射光栅来分离反射光的一部 分。

但是，在光盘装置中，由于组装精度等问题，而有时衍射光栅的 安装位置从适合的位置偏离。

在这样的情况下，在光盘装置中，由于反射光相对衍射光栅的入 射位置偏离，而无法正确地检测透镜移位量。其结果，光盘装置存在 如下问题：错误信号的质量降低，与其相伴而伺服控制的精度也降低。

发明内容

本发明是考虑以上点而完成的，其目的在于提供一种可以生成能 够进行高精度的伺服控制的检测信号的光集成元件、光检测方法以及 光拾取器以及可以进行高精度的伺服控制的光盘装置。

为了解决上述课题，本发明的光集成元件，具有：

光源，射出光束；

分割导光部，将通过沿着切线方向形成了轨道的光盘反射上述光 束而成的反射光束，分割为分别通过形成在该反射光束的光束截面中 的上述切线方向上的两端侧且关于上述光盘的径向方向相互成为相 反侧的两个端部区域的两个端部光束、通过连结上述端部区域彼此的 连结区域的连结光束、以及通过除了上述两个端部区域以及上述连结 区域之外的残余区域的残余光束，并且将上述两个端部光束以及上述 连结光束导向与上述残余光束不同的方向；以及

受光部，通过多个光检测器来接收上述两个端部光束以及上述连 结光束，该多个光检测器在上述切线方向上在照射上述连结光束的范 围中至少被分割为两个以上的区域，并且通过在上述切线方向上以至 少与照射上述两个端部光束的部分对应的分割宽度被分割为多个区 域的多个光检测器来接收上述残余光束，并且按照每个上述光检测器 来输出与受光量对应的检测信号。

由此，根据本发明的光集成元件，即使反射光束的光轴在切线方 向上偏离，也可以在规定的信号处理部中，通过连结光束中的由与端 部光束相等的光检测器检测的光强度的信号分量，来校正残余光束中 的由与端部光束对应的光检测器检测的光强度的信号分量。其结果， 本发明的光集成元件可以提高根据两个端部光束的检测结果计算的 透镜移位量的检测精度，还可以提高所计算的各错误信号的精度。

另外，本发明的光检测方法，具有：

射出步骤，从规定的光源射出光束；

分割导光步骤，将通过沿着切线方向形成了轨道的光盘反射上述 光束而成的反射光束，分割为分别通过形成在该反射光束的光束截面 中的上述切线方向上的两端侧且关于上述光盘的径向方向相互成为 相反侧的两个端部区域的两个端部光束、通过连结上述端部区域彼此 的连结区域的连结光束、以及通过除了上述两个端部区域以及上述连 结区域之外的残余区域的残余光束，并且将上述两个端部光束以及上 述连结光束导向与上述残余光束不同的方向；以及