[发明专利]一种光学平面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法无效
| 申请号: | 200910237426.8 | 申请日: | 2009-11-06 |
| 公开(公告)号: | CN101709956A | 公开(公告)日: | 2010-05-19 |
| 发明(设计)人: | 陈凌峰;任雅青;吴朔;李杰;沙定国 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
| 主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01B9/023 |
| 代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 付雷杰;郭德忠 |
| 地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 光学 平面 光纤 衍射 相干 测量方法 | ||
1.一种光学平面面形的光纤点衍射移相干涉测量方法,实现该方法的测量装置包括分光系统、测量光纤(14)、分束镜(15)、被测平面镜(16)、像点P(17)、参考光纤(18)、成像镜头(19)、CCD摄像机(20)和计算机(21);
第一步:从分光系统进入测量光纤(14)并发生衍射的球面波前透过分束镜(15),在被测平面镜(16)的表面反射并折回;反射波前是携带有被测平面镜(16)面形信息的球面波前,其球心位于测量光纤(14)的端面通过分束镜(15)在被测平面镜(16)中所形成的像点P(17);上述球面波前再次被分束镜(15)反射,形成测量波前;参考光纤(18)的端面放置于像点P(17)关于分束镜(15)的共轭位置,从参考光纤(18)的端面衍射的球面波透过分束镜(15)形成参考波前,与上述测量波前汇合而发生干涉;干涉图采用标准方法进行处理和分析;
第二步:移除被测平面镜(16),保持其他光学元件原位不动;将测量光纤(14)的端面移动到像点P(17)的位置;从测量光纤(14)的端面衍射的球面波被分束镜(15)反射形成测量波前;从参考光纤(18)的端面衍射的球面波透过分束镜(15)形成参考波前;上述参考波前与测量波前汇合而发生干涉;干涉图采用标准方法进行处理和分析;
第一步的测量结果减去第二步的测量结果即得到被测平面镜(16)的波差;
被测平面镜(16)的面形计算如下:
设φ(x,y)是通过上述运算得到的被测平面镜(16)中坐标点(x,y)处的波差,被测平面镜(16)在(x,y)点的面形为F(x,y),有:
F(x,y)=λ·φ(x,y)·cos[θ(x,y)]/4π
其中λ是光波长,θ(x,y)是从测量光纤(14)衍射的球面波前透过分束镜(15)后的光束在(x,y)点的入射角度。
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