[发明专利]测试系统和方法

说明书

技术领域

本申请公开的内容涉及一种测试系统和测试方法

背景技术

现有技术中，厂商提到的设备最大IOPS(每秒读写次数)通常是采用不公布被测设备的具体配置细节的“黑盒”测试方法测得的。具体而言，在被测设备上生成一个与被测设备的Cache大小相差不大的测试文件，生成的测试文件不能保证能够遍历所有逻辑存储单元(LUN)。由于生成的测试文件只分布于部分LUN之上，当进行读IO测试时，经过首次读IO操作后，该文件被装入Cache，以后的读写均在Cache中完成，因此得到结果均为Cache的IOPS；当进行写IO测试时，被测设备也将数据直接写至Cache中，并返回写成功操作指示，然后被测设备根据各自算法在CPU空闲时进行写磁盘操作；这样，测试过程中并不能得到真正的磁盘写IO处理性能，也得不到各被测设备写Cache算法中从Cache到磁盘的实际写时间。

发明内容

本申请将提供一种能够遍历所有磁盘进行IO读写性能的测试系统和测试方法。

根据本申请一方面的测试系统可包括：被测模块，划分为多个逻辑存储单元；至少一个压力机，其每一个用于对至少一个所述逻辑存储单元的IO性能进行测试；以及控制模块，用于为每个逻辑存储单元设置测试模型；其中，所述控制模块控制所述多个压力机中的至少一个根据所述测试模型对每个逻辑存储单元的IO性能进行测试。

根据本申请另一方面的测试方法可包括：将被测模块划分为多个LUN；为所述多个LUN中的每一个设置测试模型；为所述多个LUN中的每一个绑定至少一个测试进程；以及基于所述测试模型，利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个LUN中的每一个进行IO性能测试。

根据上述的测试系统和方法，可提供比传统测试工具更为详细的测试结果，包括磁盘读IOPS、Cache写IOPS、Cache写磁盘IOPS、吞吐带宽等。

附图说明

图1示出了根据本发明一个实施方式的测试系统的方框图；

图2为图1中示出的压力机的具体结构方框图；

图3示例性地示出了被测模块的LUN与压力机之间的关系；

图4示出了根据本发明一个实施方式的测试方法的流程图；

图5示出了压力机进行I/O压力加载的模型图；

图6示出了根据本发明一个实施方式读测试的流程图；以及

图7示出了根据本发明一个实施方式读测试的流程图。

具体实施方式

如图1所示，根据本发明一个实施方式的测试系统1000包括控制模块10、多个压力机20-1、20-2...20-n、被测模块30和连接模块40。

控制模块10用于分别为被测模块30设置IO压力模型，并控制压力机20-1、20-2...20-n根据设置的IO压力模型生成不同数目的测试进程(worker)，以对被测模块30进行IO读/写测试。被测模块30可以是任意的存储设备或系统，并被划分为多个逻辑存储单元(LUN)。在一个实施方式中，被测模块30被划分为以73G或146G为单位的多个LUN。

控制模块10设置的IO压力模型可包括IO块大小、IO读写比例、IO顺序随机比例等参数。可根据不同应用的IO读写特点，确定不同的I/O压力模型，例如，用于OLTP和OLAP的压力模型的具体模型参数可分别如表1和表2所示：