[发明专利]测试系统和方法有效

专利信息
申请号: 200910177111.9 申请日: 2009-09-25
公开(公告)号: CN102033796A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 贠文辉;唐本亭;鲁江华;高峰;张峰;赵丹怀;赵立君;程卫东 申请(专利权)人: 中国移动通信集团公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 代理人: 余朦;王艳春
地址: 100032 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种测试系统,包括:

被测模块,划分为多个逻辑存储单元;

至少一个压力机,其每一个用于对至少一个所述逻辑存储单元的IO性能进行测试;以及

控制模块,用于为每个逻辑存储单元设置测试模型;

其中,所述控制模块控制所述多个压力机中的至少一个根据所述测试模型对每个逻辑存储单元的IO性能进行测试。

2.如权利要求1所述的系统,其中,每个所述压力机包括:

测试模块,用于控制所述测试模块根据所述被测模块的逻辑存储单元个数生成一个或多个测试进程,每个所述测试进程与所述多个逻辑存储单元中的至少一个绑定。

3.如权利要求2所述的系统,其中,每个所述压力机还包括:

测试文件生成模块,用于为每一个绑定的逻辑存储单元生成一个测试文件;

其中,所述测试文件大小为整个逻辑存储单元的容量,以及每个所述测试进程通过对所述测试文件进行读操作,测试所述绑定的逻辑存储单元的读性能。

4.如权利要求3所述的系统,其中,所述测试模块被配置为通过所述测试进程测试所述绑定的逻辑存储单元的写性能。

5.如权利要求4所述的系统,其中,每个所述压力机还包括:

验证模块,用于通过预置文件验证每个所述测试进程对所述读性能和写性能的测试结果;以及

统计模块,根据所述验证模块验证的结果分别计算读IO错误率和写IO错误率。

6.一种测试方法,包括:

将被测模块划分为多个逻辑存储单元;

为所述多个逻辑存储单元中的每一个设置测试模型;

为所述多个逻辑存储单元中的每一个绑定至少一个测试进程;以及

基于所述测试模型,利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个逻辑存储单元中的每一个进行IO性能测试。

7.如权利要求6所述的方法,其中,利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个逻辑存储单元中的每一个进行IO性能测试的步骤还包括:

在所述多个逻辑存储单元中的每一个上生成一个测试文件;以及

通过读取所述测试文件计算每个所述逻辑存储单元的读性能。

8.如权利要求7所述的方法,其中,利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个逻辑存储单元中的每一个进行IO性能测试的步骤还包括:

记录所述至少一个测试进程中的每一个将测试内容写入所述被测设备的Cache的第一测试时间;

读取所述多个LUN中的每一个的扇区的内容,以确认所述测试内容是否真正已写入相应的扇区;

如果确认已经将测试内容写入相应的扇区,则记录第二测试时间;

根据所述第一测试时间计算写Cache性能参数;以及

根据所述第一测试时间和第二测试时间计算Cache写磁盘的性能参数。

9.如权利要求8所述的方法,其中,利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个逻辑存储单元中的每一个进行IO性能测试的步骤还包括:

验证每个所述测试进程对所述读性能和写性能的测试结果;以及

根据验证的结果分别计算读IO错误率和写IO错误率。

10.如权利要求8所述的方法,其中,所述写Cache性能参数包括写Cache操作的响应时间、写Cache操作的IOPS和写Cache操作的吞吐带宽;以及

其中,所述Cache写磁盘的性能参数包括所述Cache写磁盘的响应时间、Cache写磁盘的IOPS和Cache写磁盘的吞吐带宽。

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