[发明专利]图像传感装置及缺陷像素检测方法

权利要求书

1.一种图像传感装置，该图像传感装置包括：

图像传感器，其被构造成对来自被摄体的入射光进行光电转换；

缺陷像素检测单元，其被构造成基于由所述图像传感器生成的图像信 号，检测所述图像传感器的缺陷像素；以及

控制单元，其被构造成当检测所述图像传感器中的第一缺陷像素以及 第二缺陷像素时，进行控制，使得在检测所述第一缺陷像素时的所述图像 传感器的存储时间短于在检测所述第二缺陷像素时的所述图像传感器的存 储时间，并且使得用于检测所述第一缺陷像素的图像信号的数量大于用于 检测所述第二缺陷像素的图像信号的数量，其中所述第一缺陷像素具有不 规则地输出异常电平的特性，所述第二缺陷像素具有规则输出异常电平的 特性。

2.根据权利要求1所述的图像传感装置，其中，所述缺陷像素检测单 元将输出电平超过阈值的像素确定为缺陷像素，并且在检测所述第一缺陷 像素时的阈值被设置为低于在检测所述第二缺陷像素时的阈值。

3.根据权利要求1所述的图像传感装置，其中，在检测所述第一缺陷 像素时的所述图像传感器的环境温度被设置为低于在检测所述第二缺陷像 素时的所述图像传感器的环境温度。

4.一种缺陷像素检测方法，该缺陷像素检测方法包括以下步骤：

基于由被构造成对来自被摄体的入射光进行光电转换的图像传感器生 成的图像信号，检测所述图像传感器的缺陷像素；

当检测所述图像传感器中的第一缺陷像素以及第二缺陷像素时，进行 控制，使得在检测所述第一缺陷像素时的所述图像传感器的存储时间短于 在检测所述第二缺陷像素时的所述图像传感器的存储时间，并且使得用于 检测所述第一缺陷像素的图像信号的数量大于用于检测所述第二缺陷像素 的图像信号的数量，其中所述第一缺陷像素具有不规则地输出异常电平的 特性，所述第二缺陷像素具有规则输出异常电平的特性。

5.一种图像传感装置，该图像传感装置包括：

传感器，其被构造成对来自被摄体的入射光进行转换；

检测单元，其被构造成基于由所述传感器生成的图像信号，检测所述 传感器的缺陷像素；以及

控制单元，其被构造成当检测所述传感器中的第一缺陷像素以及第二 缺陷像素时，进行控制，使得在检测所述第一缺陷像素时的所述传感器的 存储时间短于在检测所述第二缺陷像素时的所述传感器的存储时间，其中 所述第一缺陷像素具有不规则地输出异常电平的特性，所述第二缺陷像素 具有规则输出异常电平的特性。

6.根据权利要求5所述的图像传感装置，其中，用于检测所述第一缺 陷像素的图像信号的数量大于用于检测所述第二缺陷像素的图像信号的数 量。

7.根据权利要求5所述的图像传感装置，其中，所述检测单元将输出 电平超过阈值的像素确定为缺陷像素。

8.根据权利要求7所述的图像传感装置，其中，在检测所述第一缺陷 像素时的阈值被设置为低于在检测所述第二缺陷像素时的阈值。

9.根据权利要求5所述的图像传感装置，其中，在检测所述第一缺陷 像素时的所述传感器的环境温度被设置为低于在检测所述第二缺陷像素时 的所述传感器的环境温度。

10.一种缺陷像素检测方法，该缺陷像素检测方法包括以下步骤：

基于由传感器生成的图像信号来检测所述传感器的缺陷像素；

当检测所述传感器中的第一缺陷像素以及第二缺陷像素时，进行控制， 使得在检测所述第一缺陷像素时的所述传感器的存储时间短于在检测所述 第二缺陷像素时的所述传感器的存储时间，其中所述第一缺陷像素具有不 规则地输出异常电平的特性，所述第二缺陷像素具有规则输出异常电平的 特性。

11.根据权利要求10所述的缺陷像素检测方法，其中，所述控制步骤 还包括：进行控制，使得用于检测所述第一缺陷像素的图像信号的数量大 于用于检测所述第二缺陷像素的图像信号的数量。