[发明专利]偏光片检测装置及方法

说明书

技术领域

本发明关于一种偏光片检测装置及方法，特别关于一种非破坏性偏光片检测装置及方法。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)由于利用液晶的双折射性，需使用偏光片以调节入射到液晶分子的光振动方向。偏光片具有使在复数个方向振动的同时入射的自然光变成只在一个方向上振动的机能，其种类有碘系、染料系、相位差、半透射(semi-transmissive)及反射型等的偏光膜。其中，碘系偏光膜在制作具有高透射及高偏光特性的高精细LCD用偏光膜时，是将碘应用在透明的PVA(Poly Vinyl Alcohol)膜中而变成可以吸收可见光区域的光。

请参照图1，其显示一偏光片结构，一般来说，该偏光片共具有五层，由上而下依序为保护膜1、第一TAC(tri acetyl cellulose)膜2、PVA膜3、第二TAC膜4、及离型膜5。由于偏光片在贴附至面板时，会去除保护膜及离型膜。因此在量测偏光片的吸收轴时，一般会将保护膜及离型膜去除。

传统的偏光片量测方法为破坏性抽样量测，首先从量产品抽样几批偏光片，再裁切成较小片的量测片，将保护膜及离型膜剥离，再将其摆上光学量测平台上，利用光源制造出不同方向的线偏光，经过偏光片后，其中与偏光片吸收轴方向平行的线偏光，将会被吸收，最后再利用分析器检测其方向，可得知偏光片的吸收轴。

传统偏光片量测方法的缺点在于必须破坏偏光片本身的结构(完全剥离保护膜及离型膜)，且无法在线检验，无法全面控管出货质量。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提供一偏光片检测装置及方法，不需要破坏偏光片本身，并可以在线进行全面检查，大大降低生产成本及精确控制产品质量。

为达成本发明的目的，该偏光片检测装置，可包括：一透明量测平台，用以承载一待测偏光片；滚轮，用以剥离该待测偏光片最上层的部分保护膜；一光源，用以提供一检测光至该待测偏光片其保护膜被剥离的部份；以及，一分析单元，用以取得该待测偏光片的光学信息。

根据本发明一较佳实施例，该偏光片检测装置可更包含：吸附盘，用以将该待测偏光片传送至该透明量测平台，以及，自动补偿系统，用以提供一偏光片偏斜角度至该分析单元，达到自动补偿效果。

此外，本发明还提供一种偏光片检测方法，可包括：将一待测偏光片传送至一透明量测平台；利用滚轮剥离该待测偏光片最上层的部分保护膜；利用光源提供一检测光至该待测偏光片其保护膜被剥离的部份；以及，利用分析单元取得该待测偏光片的光学信息。

根据本发明一较佳实施例，本发明所述的偏光片检测方法，当量测取得光学信息后，可更利用一自动补偿系统量测该待测偏光片，提供一偏光片偏斜角度至该分析单元，达到自动补偿效果。

为使本发明的上述目的、特征能更明显易懂，下文特举实施例，并配合附图，作详细说明如下：

附图说明

图1显示一习知偏光片的组成结构。

图2为本发明一较佳实施例所述的偏光片检测装置的示意图。

图3为本发明一较佳实施例所述的偏光片检测方法的流程图。

图4a-图4e为一系列的示意图，用以说明如何利用本发明所述的偏光片检测装置对一偏光片进行检测。

图5为本发明一较佳实施例所述的具有自动补偿系统的偏光片检测装置的示意图。

具体实施方式

请参阅图2，其显示符合本发明所述的偏光片检测装置100的一实施例其装置示意图。该偏光片检测装置，包括：

一透明量测平台10，该透明量测平台10用以承载一待测偏光片。该透明量测平台10由透光材质所构成，因此当后续使用一光源40提供一检测光至该待测偏光片时，检测光可穿过该透明量测平台10并传送光学信息至一分析单元50。此外，该透明量测平台10可具有真空吸附或静电吸附的功能，以固定该待测偏光片。

吸附盘20，该吸附盘20用来将该待测偏光片由一放置平台传送至该透明量测平台10上。该吸附盘20可具有真空吸附或静电吸附的功能，以吸取该待测偏光片，待传送至该透明量测平台10后，再解除吸附功能。

滚轮30，该滚轮30配置于该透明量测平台10之上，用来将该待测偏光片最上层的保护膜的一部份，暂时剥离该待测偏光片，使得后续光源40所提供的检测光，直接照射在该待测偏光片的第一TAC(tri acetyl cellulose)膜上，避免量测所得的光学信息受到保护膜干扰。其中，该滚轮30以一静电力或一黏力，使该保护膜部份剥离该待测偏光片。