[发明专利]标签面编码信号撷取方法及装置

说明书

技术领域

本发明有关一种光雕盘标签面撷取信号的方法及装置，尤其是关于光驱利用切割器，从标签面内环操作特征区的反射光总量信号变化，撷取标签面的内环操作特征区编码信号的方法及装置。

背景技术

一般的光盘有两面，一面为数据面，一面为标签面，公知制作标签的方法为利用笔或是标签贴纸在标签面上做记号以进行识别。为了美观及个人化，于是发展出光雕(Light Scribe)标签的技术，利用光驱的读取头(Pick-up Head)发射激光，将使用者所需的图形文字刻划在光雕盘的标签面上。标签面操作特征区(Control Feature Zone)的内缘部分设置有多个幅丝(Spoke)，这些幅丝以等角度方式平均分布在操作特征区内缘；藉由对幅丝的读取与判断，可以提供读取头在标签区进行描绘时在相对位置的定位之用，使得图形文字能正确的刻划在光雕盘的标签面上。标签面内环操作特征区的编码信号能提供该光雕盘相关的信息，例如：该光雕盘的识别信号等信息。

公知光驱对标签面内环操作特征区编码信号撷取方法及装置，是以读取头发射激光照射标签面内环操作特征区，接收操作特征区编码的反射光，转换并经由放大器形成射频信号(Radio Frequency Signal；简称RF信号)的反射光总量信号。公知判读反射光总量信号时，是利用固定切割器(Fixed Slicer)设定一固定的标准值，将反射光总量信号大小与固定切割器的标准值做比较，大于标准值的判定为高电平(digital high)信号，而小于标准值的判定为低电平(digital low)信号，判读出编码信号，便能成功的解码成标签面内环操作特征区的信息。

然而光雕盘标签面的反射率比数据面的反射率要差，因此在判读光雕盘标签层内环操作特征编码信号时，读取头检测到的反射光总量信号不如在数据层测到的反射光总量信号好，而且因为读取头增益值设定错误很容易在解读信号上产生误判。如图1及图2所示，为公知技术信号误判的状态，图1为放大器增益值设定错误或反射光总量信号出现偏移会使得反射光总量信号11产生上饱和现象，落在固定切割器标准值12之上，造成反射光总量信号11容易判读为高电平信号，而撷取成错误编码信号13；反之，图2为放大器增益值设定错误或反射光总量信号出现偏移会使得反射光总量信号14产生下饱合的现象，而落在固定切割器标准值12之下，造成反射光总量信号14容易判读为低电平信号，而撷取成错误编码信号15。上述固定切割器利用固定的标准值12，容易使得光驱对光雕盘标签面内环操作特征区的编码信号撷取错误，而造成标签面的刻画图文产生变形、扭曲，甚至无法刻画。因此，公知光驱对光雕盘标签面内环操作特征区编码信号的撷取方式及装置，仍有问题亟待解决。

发明内容

本发明的目的在于提供一种标签面编码信号的撷取方法，随着内环操作特征区编码的反射光总量信号大小的平均植，动态设定切割标准值，以确保撷取标签面内环操作特征区的编码信号。

本发明的另一目的在于提供一种标签面编码信号的撷取方法，藉由预定数个内环操作特征区编码的反射光总量信号平均值动态决定切割标准值，以精确撷取标签面内环操作特征区的编码信号。

为了达到前述发明的目的，本发明的标签面编码信号的撷取方法，读取标签面内环操作特征区一圈或预定数个编码，产生反射光总量信号；计算反射光总量信号大小平均值；设定切割标准值在平均值二分之一；切割反射光总量信号，撷取编码信号；解码编码信号成操作特征区的信息。

本发明的再一目的在于提供一种标签面编码信号的撷取装置，利用计算单元，计算出编码反射光总量信号大小的平均值，将动态切割器的标准值设在平均值的二分之一处，以正确撷取编码信号。

为了达到前述发明的目的，本发明的标签面编码信号的撷取装置，利用读取头发射激光照射在光雕盘标签面，并接收其操作特征区编码的反射光，形成反射光总量信号。计算单元计算编码反射光总量信号大小的平均值。动态切割器动态设定切割的标准值在反射光总量信号大小平均值的二分之一，切割反射光总量信号成高电平或低电平信号，以撷取编码信号。处理器解码该编码信号，以输出光雕盘信息。

附图说明

图1为公知技术信号上饱和状态示意图。

图2为公知技术信号下饱和状态示意图。

图3为运用本发明编码信号撷取装置的功能方块图。

图4为本发明第一实施例编码信号撷取过程的示意图。

图5为本发明第一实施例编码信号撷取方法的流程图。

图6为本发明第二实施例编码信号撷取过程的示意图。