[发明专利]标签面编码信号撷取方法及装置无效
| 申请号： | 200910132288.7 | 申请日： | 2009-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN101877228A | 公开（公告）日： | 2010-11-03 |
| 发明（设计）人： | 黄伟庭;赖俊文;郭起祥;黄识忠 | 申请（专利权）人： | 广明光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/005 | 分类号： | G11B7/005;G11B23/40 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 史新宏 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 标签 编码 信号 撷取 方法 装置 | ||
1.一种标签面编码信号撷取方法，其步骤包含：
(1)读取标签面内环操作特征区一圈的编码，产生反射光总量信号；
(2)计算该反射光总量信号大小平均值；
(3)设定切割标准值在该平均值二分之一；
(4)切割该反射光总量信号，撷取编码信号；及
(5)解码该编码信号。
2.如权利要求1所述的标签面编码信号撷取方法，其中该步骤(4)的该反射光总量信号高于切割标准值为高电平信号，反射光总量信号低于切割标准值为低电平信号，以撷取编码信号。
3.如权利要求1所述的标签面编码信号撷取方法，其中该步骤(5)将编码信号解码成标签面内环操作特征区的信息。
4.一种标签面编码信号撷取方法，其步骤包含：
(1)读取标签面内环操作特征区编码，产生反射光总量信号；
(2)计算读取间通过的标签面幅丝的个数；
(3)检查通过的幅丝个数未达到预定数个，则回到步骤(1)继续读取反射光总量信号；若通过的幅丝个数达到预定数个，则进入步骤(4)；
(4)计算该反射光总量信号大小平均值；
(5)设定切割标准值在该平均值二分之一；
(6)切割该反射光总量信号，撷取编码信号；及
(7)解码该编码信号。
5.如权利要求4所述的标签面编码信号撷取方法，其中该步骤(6)的该反射光总量信号高于切割标准值为高电平信号，反射光总量信号低于切割设定值为低电平信号，以撷取编码信号。
6.如权利要求4所述的标签面编码信号撷取方法，其中该步骤(7)将编码信号解码成标签面内环操作特征区的信息。
7.一种标签面编码信号撷取装置，设在一光驱中，包含：
读取头，发射激光照射在光雕盘标签面，并接收其操作特征区编码的反射光，形成反射光总量信号；
计算单元，计算该编码反射光总量信号大小的平均值；
动态切割器，动态设定切割的标准值在该平均值的二分之一，切割该反射光总量信号成高电平或低电平信号，以撷取编码信号；及
处理器，解码该编码信号。
8.如权利要求7所述的标签面编码信号撷取装置，其中该编码为操作特征区一圈的编码。
9.如权利要求7所述的标签面编码信号撷取装置，其中该编码为操作特征区中预定数个编码。
10.如权利要求7所述的标签面编码信号撷取装置，其中该操作特征区的编码信号解码出光雕盘的信息。
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