[发明专利]显示装置及触控检测方法有效
| 申请号: | 200910118690.X | 申请日: | 2009-03-03 |
| 公开(公告)号: | CN101510137A | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
| 发明(设计)人: | 吴文豪;黄雪瑛 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044;G02F1/133 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 梁 挥;祁建国 |
| 地址: | 台湾*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 显示装置 检测 方法 | ||
1.一种显示装置,其特征在于,包括:
多个像素单元;
多条栅极线,用于决定是否开启所述像素单元;
一读取线;以及
多个触控单元,分别电性耦接至该读取线以及所述栅极线的与所述触控单元相应的一相应栅极线,每一所述触控单元包括一开关元件;
其中,当所述触控单元中的一个被触碰时,被触碰的该触控单元的该开关元件导通,以耦合与被触碰的该触控单元相应的该栅极线的波形至该读取线上,并利用该读取线上的波形的时序以判断被触碰的该触控单元的位置;其中
每一所述触控单元还包括一感应电容以及一与该感应电容串联的液晶电容;该感应电容的一第一端电性耦接至所述栅极线中的与所述触控单元相应的一相应栅极线,该感应电容的一第二端通过该液晶电容而耦合至一预设电压,且该感应电容的该第二端通过该开关元件电性耦接至该读取线。
2.一种显示装置,其特征在于,包括:
多个像素单元;
多条栅极线,用于决定是否开启所述像素单元;
一读取线;以及
多个触控单元,分别电性耦接至该读取线以及所述栅极线的与所述触控单元相应的一相应栅极线,每一所述触控单元包括一开关元件;
其中,当所述触控单元中的一个被触碰时,被触碰的该触控单元的该开关元件导通,以耦合与被触碰的该触控单元相应的该栅极线的波形至该读取线上,并利用该读取线上的波形的时序以判断被触碰的该触控单元的位置;其中
每一所述触控单元还包括一薄膜晶体管,该薄膜晶体管的第一源/漏极电性耦接至所述栅极线中的与所述触控单元相应的一相应栅极线,该薄膜晶体管的第二源/漏极电性耦接至该读取线,该薄膜晶体管的栅极适于通过该开关元件而耦合至一预设电压。
3.根据权利要求2所述的显示装置,其特征在于,该薄膜晶体管的该第一源/漏极通过一感应电容与所述栅极线中的与所述触控单元相应的该相应栅极线电性耦接。
4.一种触控检测方法,执行于一显示装置,其特征在于,该显示装置包括多个像素单元、多条栅极线、一读取线以及多个触控单元,所述栅极线用于决定是否开启所述像素单元,所述触控单元分别电性耦接至该读取线与所述栅极线中的与所述触控单元相应的一相应栅极线;其中每一所述触控单元包括一开关元件、一感应电容以及一与该感应电容串联的液晶电容;该感应电容的一第一端电性耦接至所述栅极线中的与所述触控单元相应的一相应栅极线,该感应电容的一第二端通过该液晶电容而耦合至一预设电压,且该感应电容的该第二端通过该开关元件电性耦接至该读取线;
该触控检测方法包括步骤:
当所述触控单元中的至少一个触控单元被触碰时,耦合与该至少一个触控单元相应的至少一条该栅极线的波形至该读取线上;以及
利用该读取线上的波形的时序判断被触碰的该至少一个触控单元的位置。
5.一种触控检测方法,执行于一显示装置,其特征在于,该显示装置包括多个像素单元、多条栅极线、一读取线以及多个触控单元,所述栅极线用于决定是否开启所述像素单元,所述触控单元分别电性耦接至该读取线与所述栅极线中的与所述触控单元相应的一相应栅极线;其中每一所述触控单元包括一开关元件、一薄膜晶体管,该薄膜晶体管的第一源/漏极电性耦接至所述栅极线中的与所述触控单元相应的一相应栅极线,该薄膜晶体管的第二源/漏极电性耦接至该读取线,该薄膜晶体管的栅极适于通过该开关元件而耦合至一预设电压;
该触控检测方法包括步骤:
当所述触控单元中的至少一个触控单元被触碰时,耦合与该至少一个触控单元相应的至少一条该栅极线的波形至该读取线上;以及
利用该读取线上的波形的时序判断被触碰的该至少一个触控单元的位置。
6.根据权利要求4或5所述的触控检测方法,其特征在于,还包括步骤:
利用该读取线上的波形于一预定时间间隔内的脉冲数判断被触碰的该至少一个触控单元的数量。
7.根据权利要求4或5所述的触控检测方法,其特征在于,还包括步骤:
利用该读取线上的波形中对应同一该栅极线的波形的脉冲数判断被触碰的该至少一个触控单元的触碰时间长度。
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