[发明专利]显示器光学检测装置及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用以量测显示器各项光学参数的光学检测装置及其检测方法，可同时接收来自显示器各视角与方向角上的入射光，以达到节省检测时间与生产在线(in-line)产品全检的目的。

背景技术

近年来，由于科技进步与各类消费性电子的热卖，促使了许多产业的蓬勃发展与各类新兴产业的兴起，诸如集成电路(IC)、印刷电路板(PCB)、薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)、电子构装/封装(package)、及光通讯产业等等，各种产业都在现今的电子工业中占有一席之地。电子组件与产品的制作概括而言都是困难且复杂的，以面板产业制造为例，从薄膜晶体管的制作、面板组立，到最后整个模块的构成，期间可能会经过繁复的制程与手续。其中，每道制程手续都可能会因为生产条件的差异与各种突发状况造成制程的不稳而影响到最终成品的质量。故此，其所生产出来的电子产品在各个制程阶段中皆须进行各式各样的电性与光学检测，以确保产品的质量与可靠度。

就液晶面板的检测而言，其色度(chromaticity)、辉度(Luminance)、视角(viewing angle)与对比(contrast)等光学参数量测在液晶显示器品管中扮演极重要角色。

传统液晶面板的光学检测被局限在离线测试(off-line，即非生产在线in-line实时式的量测)的环境中，所以只能以随机抽样方式进行质量监控，无法有效掌控产品质量，对业主无论在时间与成本上皆造成不利的影响。再者，现有的面板检测技术中多使用单点量测方法。故此，要量测整个面板，检测机台须以二维方式移动光学探头或是面板，此举将耗费可观的检测时间。再者，为了获得不同视角与方位角的色度、辉度等光学参数，光学探头或面板必须作相对的角度偏摆，但实际现今检测机构中机台的旋转及定位机构操作相当复杂，且额外的机构动作又会增加所需的检测时间。如美国专利第6,804,001号中所揭露的光学检测装置，此装置是以傅氏光学原理(Fourier optics)搭配分光式影像光谱所发展出来的量测架构。其中，此装置更包括一旋转机构，可以将检测角装置旋转至不同的方位，借此得到待测点不同视角的色度与辉度各项光学信息。然而，与前述先前技术的缺点相同，为获得整体待测物各视角与方位角的光学信息，其须以二维方式移动并转动光学探头或面板样品，故所需量测时间极长，且亦不易于生产在线检测的实作。

综上所言，现今液晶面板的光学检测机台仍存在着不少缺点，如量测速度慢、检测设备占空间、机台复杂且价格昂贵等。其中最甚者，即为无法于实际生产在线制程中直接进行量测，仅能以随机方式抽样检测或是于制程完结后才进行产品全检，此作法大大增加了成品的不良率与增加无形的生产成本。故此，业界亟需开发一种全新的显示器光学检测装置，除了能提供令人满意的检测速度外，亦不能占用过多的生产线或厂房空间。其中最重要的，是能提供在线制程中(亦包含离线测试)全产品实时的检测，以实时监控并确保产品质量及制程的可靠度。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用以量测显示器各项光学参数的光学检测装置及其检测方法，该装置及其检测方法不仅减少了检测所需的时间和成本，更实现了在线对产品进行实时全检的目的。

为达上述目的，本发明提出了一种显示器光学检测装置，包括：

一受光体，呈半圆壳体内部中空的结构，罩盖在待测显示器的显示平面上；

复数个导光组件，用以传导所述显示平面所辐射的光，其第一端分布在所述受光体内部的中空面上，第二端穿过并延伸至所述受光体外部；以及

复数个光感测组件，与所述复数个导光组件的第二端耦合，用以接收所述显示平面所辐射的光。

本发明亦揭示了一种显示器光学检测方法，包括下列步骤：

(1)提供一呈半圆壳形内部中空的受光体，并于其上设置复数导光组件；

(2)将所述受光体置于显示器上的待测区域，使所述复数个导光组件接收所述显示器所辐射的光信号，随之传递至所述受光体外部的复数个光感测组件；

(3)将上述光信号转换成电荷信号，以利处理。

本发明的显著特点是通过新颖的结构设计，使该装置及其检测方法不仅可以简化检测装置，节省一般光学检测所需时间，节约生产成本，更可直接导入生产在线的制作流程之中做实时地监控，以确保所有产品的光学表现皆能达到质量要求。

下面结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细说明。

附图说明

图1是本发明实施例中显示器光学检测装置的截面图；

图2是本发明实施例中光学检测装置置于面板上的示意图；