[发明专利]电磁干扰检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种电磁干扰(EMI)的检测装置。

背景技术

电磁干扰(EMI)是影响电子产品的性能和稳定性的一个重要指标，国际标准和国家标准都对电子产品的电磁兼容(EMC)方面提出了严格的要求，同一电磁环境中的各种电子元件、设备等都应该能够正常工作而不互相干扰，而且电磁干扰不能对人体和环境造成损害。一般新开发的电子产品需要通过专门的电磁干扰测试仪等设备进行检测，针对各个电子元件和连接装置发射出的射频(RF)信号，当电磁干扰控制在可使整个设备正常工作的范围内并满足规定的EMC标准时，才可规模生产和销售。专门的电磁干扰测试仪不仅价格昂贵，而且检测过程十分复杂，通常只有指定的EMC检测中心才会配备和使用，企业在产品的研发或改进阶段，如果需要检测产品是否符合EMI标准，或者需要确定EMI产生的具体元件和具体位置，须将产品送往EMC检测中心，多次检测不仅拖延了产品开发周期，还需要支付昂贵的检测费用，为企业的生产计划和经济效益造成影响。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是，克服现有技术的不足，提供一种结构简单、准确度高并且节约成本的电磁干扰检测装置。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种电磁干扰检测装置，包括EMI探测器、用于放大射频信号功率的射频放大模块和用于显示和分析电磁干扰状况的频谱分析仪；所述射频放大模块的信号输入端与EMI探测器相连，射频放大模块的信号输出端与频谱分析仪相连。

所述射频放大模块包括电源稳压模块和射频放大器，该射频放大器包括多级串联的放大器，每一级放大器中都包含具有信号放大功能的放大晶体管；所述EMI探测器与一级放大器中放大晶体管的信号输入端相连，所述末级放大器中放大晶体管的信号输出端与频谱分析仪相连，每一级放大器的电压输入端与电源稳压模块的电压输出端相连。

所述射频放大器包括三级串联的放大器，所述一级放大晶体管的基极为信号输入端，与EMI探测器通过电容耦合连接；所述二级放大晶体管的基极与一级放大晶体管的集电极之间通过电容耦合连接；三级放大晶体管的基极与二级放大晶体管的集电极之间通过电容耦合连接，三级放大晶体管的集电极为信号输出端，与频谱分析仪之间通过电容耦合连接。

所述放大晶体管的型号为ERA-6SM+。

所述射频放大模块还包括电路板和金属外壳，所述电源稳压模块和射频放大器都集成在电路板上，金属外壳罩在电路板的外部形成全屏蔽保护层。

所述EMI探测器包括探头和BNC接头，所述探头与BNC接头相连，所述BNC接头与射频放大模块的信号输入端相连。

所述探头为天线探头，形状为封闭的环状线圈，通过导线与所述BNC接头相连。

所述线圈的直径大致为2cm。

所述天线探头由两端带有BNC接头的信号线制成，先将信号线一端的接头去掉，弯折该无接头的一端并焊接形成封闭环状线圈。

所述探头为EMI探笔，包括笔筒、探针和置于笔筒内的贴片电容，所述笔筒一端固定探针，另一端连接BNC接头，所述探针和BNC接头之间通过贴片电容耦合连接。

所述射频放大模块还包括用于衰减射频信号的衰减器，所述衰减器连接在射频放大器的信号输入端和EMI探测器之间。

本发明的有益效果是，该电磁干扰检测装置的EMI探测器可接收电子设备中某一位置或某一电子元件上的射频信号，射频放大模块将该被测信号的功率放大并输出，放大后的射频信号显示在频谱分析仪上用于判断电磁干扰状况。这种电磁干扰检测装置结构简单、检测精确并节约成本。

进一步地，该电磁干扰检测装置方便操作，只需将EMI天线探头按照一定的方向和距离置于电子设备附近的某一具体位置，或将探笔与某一电子元件相接触，就可以通过频谱分析仪观察和分析是否有超出标准的电磁干扰产生、产生干扰的频率以及干扰强度的大小；由于三级放大晶体管本身不能产生杂散信号和振荡信号，而且频谱分析仪的频幅分析结果一般都很精确，该电磁干扰检测装置准确度高；相对于专门的EMI测试仪来说，该监测装置结构简单、造价低廉，在产品研发、调试和改进阶段都能够随时和反复使用，能够为企业节约成本。

附图说明

图1为本发明的电磁干扰检测装置一种具体实施方式的结构示意图。

图2为射频放大模块的结构示意图。

图3为射频放大器的原理图。

图4为电源稳压模块的原理图。

图5为EMI天线探头的示意图。

图6为EMI探笔的示意图。

具体实施方式

以下结合附图详细说明本发明的一种具体实施方式。