[发明专利]电磁干扰检测装置无效
| 申请号: | 200910105605.6 | 申请日: | 2009-02-23 |
| 公开(公告)号: | CN101813728A | 公开(公告)日: | 2010-08-25 |
| 发明(设计)人: | 陈小明 | 申请(专利权)人: | 深圳易拓科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 向武桥 |
| 地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电磁 干扰 检测 装置 | ||
1.一种电磁干扰检测装置,其特征在于:包括EMI探测器、用于放大射频信号功率的射频放大模块和用于显示和分析电磁干扰状况的频谱分析仪;所述射频放大模块的信号输入端与EMI探测器相连,射频放大模块的信号输出端与频谱分析仪相连。
2.根据权利要求1所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述射频放大模块包括电源稳压模块和射频放大器,该射频放大器包括多级串联的放大器,每一级放大器中都包含具有信号放大功能的放大晶体管;所述EMI探测器与一级放大器中放大晶体管的信号输入端相连,所述末级放大器中放大晶体管的信号输出端与频谱分析仪相连,每一级放大器的电压输入端与电源稳压模块的电压输出端相连。
3.根据权利要求2所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述射频放大器包括三级串联的放大器,所述一级放大晶体管的基极为信号输入端,与EMI探测器通过电容耦合连接;所述二级放大晶体管的基极与一级放大晶体管的集电极之间通过电容耦合连接;三级放大晶体管的基极与二级放大晶体管的集电极之间通过电容耦合连接,三级放大晶体管的集电极为信号输出端,与频谱分析仪之间通过电容耦合连接。
4.根据权利要求3所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述放大晶体管的型号为ERA-6SM+。
5.根据权利要求2所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述射频放大模块还包括电路板和金属外壳,所述电源稳压模块和射频放大器都集成在电路板上,金属外壳罩在电路板的外部形成全屏蔽保护层。
6.根据权利要求1至5中任一项所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述EMI探测器包括探头和BNC接头,所述探头与BNC接头相连,所述BNC接头与射频放大模块的信号输入端相连。
7.根据权利要求6所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述探头为天线探头,形状为封闭的环状线圈,通过导线与所述BNC接头相连。
8.根据权利要求7所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述线圈的直径大致为2cm。
9.根据权利要求7所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述天线探头由两端带有BNC接头的信号线制成,先将信号线一端的接头去掉,弯折该无接头的一端并焊接形成封闭环状线圈。
10.根据权利要求6所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述探头为EMI探笔,包括笔筒、探针和置于笔筒内的贴片电容,所述笔筒一端固定探针,另一端连接BNC接头,所述探针和BNC接头之间通过贴片电容耦合连接。
11.根据权利要求10所述的电磁干扰检测装置,其特征在于:所述射频放大模块还包括用于衰减射频信号的衰减器,所述衰减器连接在射频放大器的信号输入端和EMI探测器之间。
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