[发明专利]聚合物本体温度的检测方法

权利要求书

1.一种聚合物本体温度的检测方法，其特征在于包括如下步骤：

1)检测多个已知温度下聚合物样品的拉曼光谱，经光谱预处理后，通过偏最小二乘法计算得到标准偏最小二乘成分和转换矩阵W；

2)选取一个或多个标准偏最小二乘成分通过一元或多元线性回归建立聚合物本体温度预测模型T＝a₁*S₁+a₂*S₂+...+b，其中：a₁，a₂，...，b为常数，S₁和S₂分别是第一项和第二项标准偏最小二乘成分；

3)检测待测聚合物的拉曼光谱，经光谱预处理后，与转换矩阵W相乘得到待测偏最小二乘成分；

4)将待测偏最小二乘成分代入步骤2)聚合物本体温度预测模型，得到聚合物本体温度。

2.根据权利要求1所述的一种聚合物本体温度的检测方法，其特征在于：所述的聚合物为聚乙烯或聚丙烯。

3.根据权利要求2所述的一种聚合物本体温度的检测方法，其特征在于：所测的聚合物为聚乙烯时，拉曼光谱的分析范围为800～1550cm^-1；所述的聚合物为聚丙烯时，拉曼光谱的分析范围为50～1550cm^-1。

4.根据权利要求1所述的一种聚合物本体温度的检测方法，其特征在于：所述的步骤1)和步骤3)中的光谱预处理包括标准正态变换、多元散射校正或分段多元散射校正。

5.根据权利要求4所述的一种聚合物本体温度的检测方法，其特征在于：所述的标准正态变换公式为：

Xi,SNV=Xi,k-X‾iΣk=1m(Xi,k-X‾i)2m-1]]>

式中，X_i，k为原始拉曼光谱，为第i样品光谱的平均值；k＝1，2，...，m，m为波长点数；i＝1，2，...，n，n为校正集样品数。

6.根据权利要求4所述的一种聚合物本体温度的检测方法，其特征在于：所述的多元散射校正步骤为：

3)计算预处理后的光谱X_i，MSC＝(X_i-lA_i)/B_i；

其中，X_i为原始拉曼光谱，为校正集样品的平均光谱，X_i，MSC为预处理后的拉曼光谱，A和B为线性回归系数，i＝1，2，...，n，n为校正集样品数，l为1×m的单位向量，m为波长点数。

7.根据权利要求4所述的一种聚合物本体温度的检测方法，其特征在于：所述的分段多元散射校正步骤为：

1)将原始拉曼光谱分为多个区域；

4)计算预处理后的每个区域光谱X′_i，j＝(X_i，j-lA_i，j)/B_i，j；

5)将各区域预处理后的光谱X′_i，j合并X′_i＝[X′_i，1X′_i，2…X′_i，j]；

其中，X_i，j为第j个区域原始拉曼光谱，为校正集样品第j个区域的平均光谱，X′_i，j为预处理后的第j个区域的拉曼光谱，X′_i为预处理后的拉曼光谱，A_j和B_j为第j个区域的线性回归系数，i＝1，2，...，n，n为校正集样品数，j＝1，2，...，k，k为所分区域个数。