[发明专利]一种γ辐射场剂量率快速测量方法有效

专利信息
申请号: 200910091590.2 申请日: 2009-08-28
公开(公告)号: CN101644779A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 邓长明;任熠;张世让;杜向阳;张佳;程昶;孟丹;刘芸;王志刚;侯磊 申请(专利权)人: 中国辐射防护研究院
主分类号: G01T1/02 分类号: G01T1/02
代理公司: 北京天悦专利代理事务所 代理人: 田 明;任晓航
地址: 030006*** 国省代码: 山西;14
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 辐射 剂量率 快速 测量方法
【说明书】:

技术领域

发明属于辐射场测量技术领域,具体涉及一种γ辐射场剂量率快速测 量方法。

背景技术

辐射测量仪表类型可分为核素能量测量和辐射场强度测量,辐射场强度 的测量一般用计数率或剂量率表示,剂量率是指单位时间内的累积剂量。老 式仪表由于电子技术落后,采用定时计数,只能手动测量。随着单片机技术 的发展,给剂量率快速智能化测量带来可能,仪器的智能化程度越来越高。 剂量率测量仪表适用于核电站、核军工、保健物理、工业测量、放射化学、 核医学、核材料运输与储存、环境监测等领域的辐射测量。

在探测器灵敏度确定的情况下,剂量率测量的准确度与测量时间有密切 关系。测量时间短,采集的计数少,统计涨落就大,测量精度低;反之测量 时间长,采集的计数多,统计涨落小,测量精度高。现有的剂量率测量仪器 一般采用滑动平均算法计算剂量率,当测量时间过长时,仪器对辐射剂量场 变化的响应时间比较慢,导致测量的结果不准确,而且对人员的防护也是不 利的。

发明内容

针对现有技术中存在的缺陷,本发明的目的是提供一种快速、准确地测 量γ辐射场剂量率的方法。

为了实现上述目的,本发明采用的技术方案如下:

一种γ辐射场剂量率快速测量方法,该方法针对γ辐射场中的剂量率每 秒采集一组数据,计算该组数据平均值,并将该组数据平均值插入到队列尾; 当队列中数据的个数超过预设的最大队列个数N时,将队列头数据删除,将 新采集的一组数据的平均值插入到队列尾;

在开始下一秒采集数据时,计算队列中所有数据的平均值,并将其显示 在测量设备上;

从第2秒开始,依次判断下列条件是否成立:①该秒采集的一组数据的 平均值是否大于设定值P,所述P为正整数,4cps≤P≤6cps,②该秒采集的 一组数据的变化方向是否一致,③该秒采集的所有数据与当前队列中所有数 据的平均值之差是否均大于或均小于K倍的标准偏差;如果上述条件均满足, 则结束本次测量,重新开始测量,测量设备上的显示结果为本次测量的最终 结果;如果上述条件有一个不满足,则继续采集数据。

如上所述的γ辐射场剂量率快速测量方法,其中,每秒采集的每组数据 的个数为2。

如上所述的γ辐射场剂量率快速测量方法,其中,N为正整数,且60≤ N≤100。

如上所述的γ辐射场剂量率快速测量方法,其中,P=5cps。

如上所述的γ辐射场剂量率快速测量方法,其中,判断该秒采集的一组 数据的变化方向是否一致的方法为:该秒采集的所有数据是否均大于或均小 于当前队列中所有数据的平均值,如是,则变化方向一致,否则,变化方向 不一致。

如所述的γ辐射场剂量率快速测量方法,其中,标准偏差的计算公式为: M1、M2...Mn分别为第n秒采集的所有数据的平均值。

如上所述的γ辐射场剂量率快速测量方法,其中,K为正整数,且3≤K ≤5。

本发明所述方法,在剂量率滑动平均算法的基础上,增加了γ辐射场水 平的评断,不仅实现了剂量率的快速测量,而且提高了对γ辐射场变化的响 应速度,进而提高了剂量率测量的准确性。

附图说明

图1是具体实施方式中测量γ辐射场剂量率的方法流程图;

图2a是具体实施方式中当测量到60秒时队列中数据示意图,图2b是具 体实施方式中当测量到61秒时队列中数据示意图。

具体实施方式

本发明的核心思想是:在现有剂量率滑动平均算法的基础上,增加辐射 场水平的判断,将辐射场水平作为本次测量结束的标志,实现了剂量率快速 测量的基础上,加快对辐射场变化的响应时间,从而使测量结果更加准确。

下面结合具体实施方式和附图对本发明进行详细描述。

图1出示了本发明所述方法一种实施方式的流程,该方法使用GM计数 管针对γ辐射场中的剂量率每秒采集一组数据,计算该组数据平均值,并将 该组数据平均值插入到队列尾;当队列中数据的个数超过预设的最大队列个 数N(N为正整数且60≤N≤100)时,将队列头数据删除,将新采集的一组 数据的平均值插入到队列尾。

在开始下一秒采集数据时,计算队列中所有数据的平均值,并将其显示 在测量设备上。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国辐射防护研究院,未经中国辐射防护研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910091590.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top