[发明专利]存储器坏块表的保存和读取的方法以及装置有效
申请号: | 200910080119.3 | 申请日: | 2009-03-19 |
公开(公告)号: | CN101510445A | 公开(公告)日: | 2009-08-19 |
发明(设计)人: | 廖志城;凌明 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 许 静 |
地址: | 100083北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 存储器 坏块表 保存 读取 方法 以及 装置 | ||
技术领域
本发明涉及存储器领域,特别是指一种存储器坏块表的保存方法以及装置。
背景技术
存储器在电子产品中应用非常广泛,因此存储器的坏块管理也非常重要。以NAND flash(闪存)为例,现有的NAND flash坏块的管理方法是,将NAND flash前面或后面的几个block(块)来存储坏块表(BBT,Bad Block Table)。通常,存储坏块表的块的位置是固定的,一般为存储器最前面的几个块或者最后面的几个块。并且,存储坏块表的块的数量也是固定的,一般为4个。这样一旦存储器前面或后面的几个块都出了问题,则存放坏块表的地方就坏了。即使对NAND flash进行格式化,系统仍然会将坏块表创建在坏块的地方,系统启动后,在NAND flash的最前面或最后面的块上查找坏块表,使用时读取的坏块表的数据将会是错误的。由于系统对NAND flash上的数据的读取或写入,都要经过坏块表的筛选,一旦坏块表的数据出错,将导致读写NAND flash上的数据都存在出错的隐患,因此降低了NAND flash的使用可靠性。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种存储器坏块表的存储和读取的方法以及装置,能够提高存储器使用的可靠性。
为解决上述技术问题,本发明的实施例提供技术方案如下:
一方面,提供一种存储器坏块表的保存方法,包括:
判断存储器的每个块是否为坏块,产生判断结果;
若所述判断结果为:所述块为坏块,则生成坏块信息;
在所述存储器中查找预定数量的好块作为坏块表保存块;
根据所述坏块信息和坏块表保存块的标识符生成坏块表;
将至少一份所述坏块表写入所述坏块表保存块中。
所述的存储器坏块表的保存方法,还包括:
根据所述判断结果,计算坏块数量;
根据坏块表保存块的数量、所述坏块数量以及所述存储器中坏块表预留存储块的数量,计算所述存储器中已使用的块的数量;
将所述存储器中已使用的块的数量记录在所述坏块表中。
所述计算所述存储器中已使用的块的数量的步骤之前,还包括:
根据所述坏块信息,确定所述存储器中坏块表预留存储块的数量。
在所述存储器中查找预定数量的好块作为坏块表保存块的步骤之前,还包括:
根据所述坏块信息,确定坏块表的备份数量;
根据所述坏块表的备份数量,确定所述预定数量;
所述根据所述坏块信息和坏块表保存块的标识符生成坏块表的步骤具体为:
根据所述坏块信息、坏块表保存块的标识符和所述坏块表的备份数量生成坏块表。
所述将至少一份所述坏块表写入所述坏块表保存块中的步骤具体为:
在所述坏块表保存块中存储一份所述坏块表;
按照所述坏块表的备份数量,在所述坏块表保存块中备份所述坏块表。
所述存储器为NAND flash、NOR flash或ROM。
另一方面,提供一种存储器坏块表的保存装置,包括:
判断模块,用于判断存储器的每个块是否为坏块,产生判断结果;
坏块信息生成模块,用于若所述判断结果为:所述块为坏块,则生成坏块信息;
查找模块,用于在所述存储器中查找预定数量的好块作为坏块表保存块;
坏块表生成模块,用于根据所述坏块信息和坏块表保存块的标识符生成坏 块表;
写入模块,用于将至少一份所述坏块表写入所述坏块表保存块中。
所述的存储器坏块表的保存装置还包括:
第一计算单元,用于根据所述判断结果,计算坏块数量;
第二计算单元,用于根据坏块表保存块的数量、所述坏块数量以及所述存储器中坏块表预留存储块的数量,计算所述存储器中已使用的块的数量;
记录单元,用于将所述存储器中已使用的块的数量记录在所述坏块表中。
另一方面,提供一种存储器坏块表的读取方法,包括:
根据坏块表保存块的标识符,从存储器中查找坏块表保存块;
从查找到的所述坏块表保存块中读取坏块表。
另一方面,提供一种存储器坏块表的读取装置,包括:
查找模块,用于根据存储器中坏块表保存块的标识符,从存储器中查找坏块表保存块;
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