[发明专利]数字模拟混合信号芯片测试卡

说明书

技术领域

本发明属于集成电路芯片测试领域，尤其是一种数字模拟混合信号芯片测试卡。

背景技术

集成电路设计、生产厂家在设计、生产出集成电路芯片后，通常需要使用专用的芯片测试机对集成电路芯片进行测试，以识别坏片并进行标识，为后道工序生产创造条件，只有通过测试的集成电路芯片才能出厂销售，没有通过测试的集成电路芯片则不能出厂。目前，国内集成电路芯片测试主要由集成电路芯片生产厂家自行测试和委托专业测试厂家测试两种模式。由于国内芯片生产厂家测试能力不足，专业测试厂家稀缺，使得芯片测试成为部分芯片产品及时投放市场的瓶颈，同时，由于芯片测试技术要求相对较高，成本较大，而专业的芯片设计企业一般不倾向于投资购买昂贵的测试设备，使得性价比高的自主研发的测试机、测试板卡需求应运而生。由于集成电路芯片的种类繁多，既有输入/输出信号全部为一种类型信号的集成电路芯片，如全数字信号芯片和全模拟信号芯片，也有输入/输出信号为不同信号类型的混合信号集成电路芯片，如输入为数字信号而输出为模拟信号的集成电路芯片，或输入为模拟信号而输出为数字信号的集成电路芯片，因此，现有的多数芯片测试机很难满足不同类型集成电路芯片测试的需要。由于混合信号芯片同时需要处理数字信号及模拟信号，如对于音频转化芯片/视频转化芯片，需要将音频/视频的数字信号转换为模拟信号进行输出，因此，对混合信号芯片进行测试的技术难度相当高。现有的芯片测试机通常只能够对单一类型信号的集成电路芯片进行测试，而不能对混合信号芯片进行有效地测试，而且测试成本昂贵。

发明内容

本发明的目地在于克服现有技术的不足，提出一种数字模拟混合信号芯片测试卡，这种芯片测试卡安装在芯片测试机上能够对输入为数字信号而输出为模拟信号的混合信号芯片进行测试，也可以将其与其他类型的芯片测试卡共同安装在芯片测试机上，实现对多种类型的集成电路芯片进行测试，具有结构设计合理、测试成本低廉、性价比高的特点。

本发明解决其技术问题是采取以下技术方案实现的：

一种数字模拟混合信号芯片测试卡，由连接有被测芯片载板的芯片测试卡构成，在芯片测试卡上安装有芯片测试电路，所述的芯片测试电路包括接口模块、配置芯片、FPGA处理模块及模数转换模块，接口模块通过总线与FPGA处理模块相连接，与配置芯片相连接的FPGA处理模块分别通过控制端与模数转换模块、被测芯片载板相连接，通过数字信号输出端与被测芯片载板相连接，该被测芯片载板的模拟信号输出端与模数转换模块的输入端相连接，被测芯片载板的数据时钟信号及状态信号分别与FPGA处理模块相连接，该模数转换模块的控制端与被测芯片载板相连接，模数转换模块的输出端与FPGA处理模块的数字信号输入端相连接。

而且，所述的FPGA处理模块由一块FPGA芯片构成，所述的模数转换模块由一个模数转换子模块构成。

而且，所述的FPGA处理模块由2～8块FPGA芯片连接构成，在2～8块FPGA芯片与接口模块之间连接有一地址译码模块；所述的模数转换模块由2～8个模数转换子模块构成。

而且，所述的模数转换子模块包括采样保持电路、差分放大器、可控增益放大器、缓冲器、比较器及四路模拟/数字信号转换器，被测芯片载板输出的单通道模拟信号和双通道模拟信号分别连接到采样保持电路和差分放大器的输入端，差分放大器的输出端与采样保持电路的另一输入端相连接，采样保持电路的输出端及FPGA芯片输出的增益控制信号分别连接到可控增益放大器的两个输入端，可控增益放大器的输出端分别连接到三个比较器的一输入端和缓冲器的输入端，三个比较器的另一输入端分别与三个基准电压相连接，缓冲器的输出端及三个比较器的输出端分别连接到四路模拟/数字信号转换器的输入端上，该四路模拟/数字信号转换器的输出端输出四路数字信号。

而且，所述的FPGA芯片内置有多路选择器、触发器、加法器、存储器、移位寄存器及译码器，模数转换子模块生成的三个比较信号同时连接到第一多路选择器和第二多路选择器的输入端，第一多路选择器、第二多路选择器的输出端及模数转换子模块输出的四路数字信号分别连接到第三多路选择器的输入端，第一多路选择器及第二多路选择器的输出端还分别连接到第一触发器和第二触发器上，两个范围选择信号分别连接到第三触发器、第四触发器上，两个范围选择信号还连接到译码器的两输入端及第四多路选择器的两输入端上，四个触发器的输出端连接到第一存储器上，第三多路选择器的输出端通过移位寄存器同时连接到第一存储器和四个加法器的第一输入端，四个加法器的另一输入端分别与译码器的四个输出端相连接，四个加法器的的输出端分别连接到第四多路选择器的输入端上，该多路选择器的输出端连接到第二存储器上。