[发明专利]功率自校准防伪全息标识特性参数检测方法及检测仪无效

专利信息
申请号: 200910067963.2 申请日: 2009-02-27
公开(公告)号: CN101498659A 公开(公告)日: 2009-08-05
发明(设计)人: 刘铁根;江俊峰;何瑾;梁霄 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 天津佳盟知识产权代理有限公司 代理人: 侯 力
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 功率 校准 防伪 全息 标识 特性 参数 检测 方法
【权利要求书】:

1、一种防伪全息产品特性参数检测方法,其特征是该方法依次包括:

(1)令光源发出的光束与被测防伪全息标识样品法线成角度θ经过分光基片照射到样品表面;其中,分光基片的法线方向与光源发出的光束方向不重合;

(2)在分光基片反射光方向放置第一光电接收器,在第二光电接收器测量衍射光强度的对应时刻,第一光电接收器同步探测该时刻分光基片反射方向上的光强度信号,来标定防伪标识表面的入射光功率;

(3)在样品台的法线方向放置一凹面镜以汇聚入射到全息防伪标识表面光强度的衍射光强;其中,凹面镜的法线方向与防伪标识样品的法线方向不重合;

(4)在凹面镜反射光方向放置第二光电接收器,实时获取扫描方向上各点衍射光强度信号;

(5)第一光电接收器和第二光电接收器将获取的相同时刻对应的光强度信号转换为电压信号再经A/D转换模块转换成数字信号后,送入中央控制模块,由中央控制模块对采集到的数据进行分析和处理,通过以下公式(1)和(2)计算出防伪标识的特性参数:信噪比SNR及衍射效率η

SNR=IS/Io1IN/Io2=IS/kIr1IN/kIr2=IS/Ir1IN/Ir2---(1)]]>

η=IskIr1×100%---(2)]]>

其中,k为分光基片的透反比,IS为待测标识表面的衍射光强度,Ir1为分光基片表面的反射光强,I01=kIr1为透过分光镜入射到标识表面的入射光光强,IN为待测标识表面噪声点处的衍射光强度,Ir2为此时分光基片表面的反射光强,I02=kIr2为此时入射到标识表面的入射光光强;

(6)输出检测结果。

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