[发明专利]实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置和测量方法无效
申请号: | 200910054823.1 | 申请日: | 2009-07-15 |
公开(公告)号: | CN101608999A | 公开(公告)日: | 2009-12-23 |
发明(设计)人: | 刘静;魏劲松 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/41;G01N21/01 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 实时 观察 双模 参数 可调 扫描 装置 测量方法 | ||
1.一种实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置,特征在于其构成包括激光器(1),沿该激光器(1)输出激光前进的主光路方向依次是第一可调衰减片(2)、声光调制器(3)、第一孔径光阑(5)、第一分光棱镜(8)、第二分光棱镜(9)、第一聚焦透镜(11)、待测样品(12)、第二聚焦透镜(14)、第三分光棱镜(15)、第二小孔光阑(18)和第三探测器(19),该第三探测器(19)的输出端与计算机(20)的输入端相连;所述的第一聚焦透镜(11)和第二聚焦透镜(14)共焦,所述的待测样品(12)位于样品控制台(13)上且该待测样品(12)表面垂直于所述的主光路,置于所述的第一聚焦透镜(11)和第二聚焦透镜(14)共焦点附近;
所述的声光调制器(3)与信号发生器(4)相连,由第一可调衰减片(2)、声光调制器(3)和信号发生器(4)组成参数调制部分;
在所述的第一分光棱镜(8)的一侧垂直于所述的主光路方向设置冷光源(6),该冷光源(6)发出的光经第一分光棱镜(8)反射后沿所述的主光路经第二分光棱镜(9)进入所述的第一聚焦透镜(11),在所述的第一分光棱镜(8)的另一侧垂直于所述的主光路方向设置第一探测器(7),该第一探测器(7)的输出端与所述的计算机(20)的输入端相连;
在所述的第二分光棱镜(9)的一侧垂直于所述的主光路方向设置滤光片(21)和CCD(10);
在所述的第三分光棱镜(15)的一侧垂直于所述的主光路方向依次设置第二可调衰减片(16)、凸透镜(22)和第二探测器(17),该第二探测器(17)的输出端与所述的计算机(20)的输入端相连;
所述的计算机(20)的输出端与所述的样品控制台(13)的控制端相连。
2.根据权利要求1所述的实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置,其特征在于所述的第一可调衰减片(2)的输出激光功率对入射激光功率的比值0~1任意可调。
3.根据权利要求1所述的实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置,其特征在于所述的声光调制器(3)对激光脉冲宽度从5ns到连续光连续可调。
4.利用权利要求1所述的实时观察的单束双模参数可调Z扫描装置进行测量的方法,其特征在于包括下列步骤:
①将待测样品(12)放在样品控制台(13)上,调节样品控制台(13)的位置,使待测样品(12)的表面和激光束垂直;调节所述的CCD(10)的位置,使待测样品(12)在CCD(10)上清晰地成像,设置样品控制台(13)的参数:样品控制台(13)总运行步长数为7500步,运行速度为5步/秒;定义主光轴为Z轴,激光入射的方向为正方向,待测样品(12)随样品控制台(13)沿Z轴运动;定义待测样品(12)的外表面(A)在焦点处的位置为Z轴坐标的零点,待测样品(12)的外表面(A)在Z1=-10Z0的位置为起始运动位置,待测样品(12)的外表面(A)在Z2=10Z0的位置为终了运动位置,Z0为所述的聚焦透镜(11)的焦深;
②调节第一衰减片(2)及信号发生器(4),设置所述的声光调制器(3)输出的激光功率和激光脉冲宽度,通过计算机(20)驱动样品控制台(13)沿Z轴从Z1=-10Z0位置向Z2=10Z0位置运动,同时第二探测器(17)和第三探测器(19)分别收集透过所述的待测样品(12)的激光能量,由数据采集器转变为电压信号通过软件在计算机(20)上显示,采集的数据电压值作纵坐标,相应的Z轴的位置作横坐标,通过软件处理保存为.txt格式文档,留作后续处理;
③计算机(20)对第二探测器(17)采集到的开孔数据作归一化处理,将第二探测器(17)对应的曲线的所有纵坐标数值除以Z=-10Z0处的纵坐标数值,得到待测样品(12)的开孔的相对透过率,曲线的大致形状是在焦点Z=0出呈现一个峰或者谷,而远离焦点处归一化透过率为1,取Z=0处的纵坐标值T(0),代入以下公式计算得到待测样品(12)的非线性吸收系数β:
其中:I0是焦点处的激光强度, P是第二探测器(17)测得的激光功率,w0是焦点处的激光斑点大小, N.A.是第一聚焦透镜(11)的数值孔径;Leff是待测样品(12)的有效厚度,L是待测样品(12)的实际厚度,Leff=[1-exp(-α0L)]/α0;α0是待测样品(12)的线性吸收系数;
④对第三探测器(19)采集到的闭孔数据作归一化处理,将第三探测器 (19)对应的曲线的所有纵坐标数值除以Z=-10Z0处的纵坐标数值,再将其除以步骤③中的归一化结果,得到一支类似于sin形状或cos形状的曲线,取曲线的峰和谷的差值ΔTP-v并代入以下公式,求出待测样品(12)的非线性折射系数γ:
ΔTp-v=0.406(1-S)0.25|kγI0L|
其中:S是第二小孔光阑(18)的参数, ra是第二小孔光阑(18)的半径,wa是第二小孔光阑(18)处透射光斑的半径;k是作用激光的波数, λ是激光波长;
⑤在待测样品(12)移动的同时,观察CCD(10)中待测样品表面形貌的变化,以了解与待测样品(12)的非线性吸收系数β和非线性折射系数γ相关的物理信息,注意每次变换实验条件时均要调节待测样品(12)的位置,选择不同的激光作用点;
⑥调节第一衰减片(2)及信号发生器(4),改变激光功率和激光脉冲宽度,重复以上第②~⑤步,以获得不同激光功率和激光脉冲宽度下待测样品(12)的非线性吸收系数β和非线性折射系数γ。
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