[发明专利]主动组件阵列基板与液晶显示面板

说明书

技术领域

本发明是有关于一种阵列基板与显示面板，且特别是有关于一种具有检测单元(inspection units)的主动组件阵列基板、以及具有此主动组件阵列基板的液晶显示面板。

背景技术

具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)已逐渐成为显示器的主流。显示时，液晶显示面板通过扫描线与数据线选取特定的像素，并提供此像素适当的操作电压，以显示对应此像素的画面。特别是，在液晶显示面板的制作过程中，需要对其进行测试，以确定所制作出来的液晶显示面板能正常运作。

一般而言，采用短路杆(shorting bar)的设计对于液晶显示面板进行测试。详言之，液晶显示面板包括一主动组件阵列基板、一彩色滤光基板以及配置于两基板之间的液晶层。主动组件阵列基板包括显示区以及周边电路区，而短路杆配置于周边电路区上。

当进行测试时，例如是以栅极短路杆(gate shorting bar)同时接触所有的扫描线，且对每一扫描线施加同一栅极测试信号。所以，可在同一时间开启连接于每一扫描在线的像素内的所有薄膜晶体管。另外，以源极短路杆(sourceshorting bar)同时接触所有的数据线，并经由此源极短路杆输入一共同测试信号至数据在线，以将显示数据输入每一像素中，进而观察整个显示画面的显示情形。

采用上述短路杆的测试方法，所有薄膜晶体管与像素电极均接收并反映同一信号。当电路中存在缺陷(如开路或断路)将会使组件接收不到预定的信号，而显示出与正常组件(像素)不同的电气与光学特性。测试者即可据此观察而知缺陷的所在位置。

图1A为公知一种主动组件阵列基板的示意图。图1B与图1C为分别图1A中的检测单元沿A-A’线的剖面示意图。请同时参照图1A与图1B，主动组件阵列基板10包括多条电极配线20以及多个与电极配线20对应的检测单元22，其中检测单元22包括多条短路杆90以及多个对应短路杆90的电性接续单元30。其中，电性接续单元30包括第一导电图案40、第一介电层70、第二导电图案50、第二介电层80以及透明导电图案60。

如图1A与图1B所示，位于每一电性接续单元30中的第一导电图案40是通过第一接触窗开口H1，而与第二导电图案50以及透明导电图案60连接。第二导电图案50是通过第二接触窗开口H2与透明导电图案60连接。

请参照图1C，在第一介电层70的制作过程中，常因过度蚀刻而使得第一接触窗开口H1附近膜层的坡度不连续，如此一来，使得透明导电图案60断线，而无法顺利与第一导电图案40搭接。因此，将造成检测信号无法输入的情形，而无法有效地进行主动组件阵列基板的检测。如此一来，会导致后续生产成本提高以及良率低落等问题。

为了解决上述第一介电层70因过度蚀刻而使得透明导电图案60于第一接触窗开口H1附近断开的问题，可将第一接触窗开口H1的尺寸缩小，而减缓第一介电层70过度蚀刻的现象。但是，缩小第一接触窗开口H1的尺寸将面临到电阻阻值过高的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提出一种主动组件阵列基板，其具有可防止导电图案断开设计的检测单元。

本发明是关于另一种液晶显示面板，其具有上述的主动组件阵列基板。

为具体描述本发明的内容，在此提出一种主动组件阵列基板，此主动组件阵列基板具有一显示区以及一周边电路区，主动组件阵列基板包括多条电极配线与多个检测单元。多条电极配线配置于显示区且延伸到周边电路区中。多个检测单元配置于周边电路区，检测单元具有多条短路杆以及多个电性接续单元，其中每一电性接续单元分别与对应的短路杆以及与对应的电极配线电性连接，每一电性接续单元包括第一导电图案、第一介电层、第二导电图案、第二介电层以及透明导电图案。第一导电图案连接电极配线，而分别设置在电极配线的第一侧与相对的第二侧。第一介电层覆盖于第一导电图案上。第二导电图案配置于导电图案上方的第一介电层上，且与电极配线垂直。第二介电层覆盖于第二导电图案上。透明导电图案配置于第二导电图案上方的第二介电层上。短路杆是由该第二导电图案所构成。在电极配线的第一侧设置有一第一接触窗开口，以使得透明导电图案通过第一接触窗开口电性连接至短路杆与第一导电图案，且第一接触窗开口附近的至少部分第二导电图案被移除。在电极配线的第二侧设置有一第二接触窗开口，以使得透明导电图案通过第二接触窗开口而电性连接短路杆。