[发明专利]6H-SiC基底反极性AlGaInP LED芯片无效

专利信息
申请号: 200910020391.2 申请日: 2009-04-29
公开(公告)号: CN101540360A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 徐现刚;夏伟;苏建 申请(专利权)人: 山东华光光电子有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 250101山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: sic 基底 极性 algainp led 芯片
【说明书】:

技术领域

发明涉及四元AlGaInP发光二极管(LED)芯片的结构及其制作方法,属半导体光电子加工技术领域。

背景技术

高亮度AlGaInP四元LED具有寿命长、稳定性好、节能环保等优点,广泛应用于户内外显示屏、城市亮化、交通信号灯、汽车用灯、液晶显示背光源等领域。

现有常规AlGaInP四元LED芯片采用GaAs基底,其芯片的结构如图1所示,包括外延层9和GaAs基底7,外延层9的顶面设有P型电极1,GaAs基底7的底面设有N型电极8,外延层9由上至下依次为P型GaP层2、P型AlGaInP层3、发光层4、N型AlGaInP层5和DBR(布拉格)反射层6,P型电极设置在P型GaP层2上。该类芯片使用的是热导率较差的GaAs基底(热导率0.46W/cm K),在大电流、高功率工作条件下,GaAs基底LED芯片散热不良,性能提升有很大的局限性。

6H-SiC基底具有大的热导率(达到4.9W/cm K),比GaAs基底高约十倍,在此基底上工作的管芯可以工作在大电流下,功率增加,可靠性增加,散热良好,能够克服了GaAs基底上四元AlGaInP发光二极管芯片的缺点。但是由于制备工艺的不完善,目前还没有6H-SiC基底四元AlGaInP发光二极管芯片的产品问世。

发明内容

本发明针对现有AlGaInP四元发光二极管芯片采用GaAs基底存在的不适应大电流、高输出功率工作条件的问题,提供一种大电流、高输出功率的6H-SiC基底反极性AlGaInP LED芯片及其制作方法,同时提供一种该LED芯片的制作工艺。

本发明的6H-SiC基底反极性AlGaInP LED芯片包括基底和基底上的外延层,以6H-SiC材料作为基底,外延层由上至下依次为N型AlGaInP层、发光层、P型AlGaInP层、P型GaP层和金属反射及粘结层,在N型AlGaInP层上设置N型电极,在6H-SiC基底的底面或金属反射及粘结层上设置P型电极。金属反射及粘结层包括一层粘接层和一个金属反射镜。

6H-SiC材料可以是导电6H-SiC单晶(电阻率小于0.1欧姆·厘米)或绝缘6H-SiC单晶(电阻率大于103欧姆·厘米)。

上述6H-SiC基底反极性AlGaInP LED芯片的制作工艺是:

在经过抛光的6H-SiC基底表面上蒸镀一层粘接层及金属反射镜,再通过加热、真空及静压的方法将LED外延层与6H-SiC基底粘接在一起,再用选择腐蚀的方法将原GaAs基底腐蚀剥离掉,制作成以6H-SiC为基底的LED晶片,经蒸镀、刻蚀等工艺形成电极制成管芯。具体包括以下步骤:

(1)首先在GaAs基底上生长外延结构,按常规由下至上依次外延生长N型AlGaInP层、发光层、P型AlGaInP层和P型GaP层,制成外延层;

(2)在经过抛光的6H-SiC基底上蒸镀金属反射及粘结层,金属反射及粘结层包括一层粘接层和一个金属反射镜;

(3)在200℃~400℃加热、小于1Torr的真空及30PSI~80PSI的静压的条件下将步骤(1)制备的外延层中P型GaP层与步骤(2)中的金属反射及粘结层对接;

(4)选择性腐蚀掉GaAs基底;

(5)在N型AlGaInP层上制作N型电极,在6H-SiC基底的底面或金属反射及粘结层上制作P型电极。

本发明的AlGaInP LED芯片是以热导率高于GaAs材料10倍的6H-SiC材料为基底,将LED发光层从GaAs上转移到6H-SiC基底上,与现有的AlGaInP四元LED芯片的外延层结构自上至下正好相反,制作出了大电流、高输出功率的AlGaInP四元LED芯片。由于6H-SiC材料的热导率高,可大幅度改善产品的高温特性,提高产品可靠性,在大功率应用方面存在着其它类型LED无法比拟的优势。

附图说明

图1是现有GaAs基底的AlGaInP常规LED四元芯片结构示意图。

图2是本发明实施例1的以导电6H-SiC为基底的反极性AlGaInP LED芯片的结构示意图。

图3是本发明实施例2的以绝缘6H-SiC为基底的反极性AlGaInP LED芯片结构示意图。

图4是本发明制作工艺中的外延层结构示意图。

图5是6H-SiC基底、金属反射层及粘结层制作步骤示意图。

图6是6H-SiC基底与外延层粘接步骤的示意图。

图7是GaAs基底腐蚀剥离步骤的示意图。

图8是外延层局部蚀刻步骤的示意图。

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