[发明专利]导光表面结构有效

专利信息
申请号: 200880024827.9 申请日: 2008-07-08
公开(公告)号: CN101743509A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: G·瓦尔策;G·施托尔维克;W·黑泽 申请(专利权)人: 拜尔材料科学股份公司
主分类号: G02F1/13357 分类号: G02F1/13357;G02B5/02;G02B27/00;G02B3/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 周铁;李炳爱
地址: 德国莱*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 表面 结构
【权利要求书】:

1.包括前侧和后侧的平面模制品,其中所述前侧具有由透镜区和凸 出的CPC区构成的导光结构,且其中所述CPC区是指可以在数学上用复 合式抛物面聚光器函数描述的导光结构部分,其特征在于,所述CPC区 可以通过下述步骤来确定:

a)利用规定的接受角由Fresnel公式计算在介质中的孔径角θ1和θ2;

b)根据以下公式构造在介质中的孔径角为θ1的抛物线分部P1和在 介质中的孔径角为θ2的抛物线分部P2

y1,2=(x+_cosθ1,2)22(1+_sinθ1,2)-1±sinθ1,22]]>

其中θ1,2是左(θ1)右(θ2)抛物线在介质中的孔径角,x是X坐标,y1,2是左(y1) 右(y2)抛物线的Y坐标;

c)计算所述抛物线分部的端点F1,F2和E1,E2

d)绕在介质中的孔径角θ1旋转抛物线分部P1和绕在介质中的孔径 角θ2旋转抛物线分部P2,以及沿x轴平移抛物线分部P2

e)任选地在θ1≠θ2的不对称变体的情形下,确定由点E1和E2限定的 倾斜面的倾斜度;

f)由在步骤a)-e)中构造的几何结构确定在空气中的有效接受角;

g)比较有效接受角和规定的接受角,如果偏差大于0.001%,则在 步骤a)中以修正的接受角代替规定的接受角重复步骤a)-f),其中修正的 接受角不等于规定的接受角,且其中选择修正的接受角使步骤f)中的有 效接受角与规定的接受角一致;和

h)在达到有效接受角与规定的接受角偏差小于或等于0.001%时, 在y方向上缩短所述抛物线到由缩短系数确定的程度。

2.根据权利要求1所述的模制品,特征在于所述导光结构基本上是平 移不变的。

3.根据权利要求1所述的模制品,特征在于所述CPC区的两点F1和 F2之间的结构可以用连续多项式函数描述。

4.根据权利要求3所述的模制品,特征在于用于计算所述透镜的多 项式为正弦曲线、n级多项式、抛物线、双曲线、椭圆、圆、圆弧段。

5.根据权利要求3所述的模制品,特征在于用于计算所述透镜的多 项式为椭圆。

6.根据权利要求1所述的模制品,特征在于所述区与在权利要求3 或4中描述的几何形状相差小于5%。

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