[发明专利]光信息记录介质、光信息记录介质重放装置、光信息记录介质重放装置的控制方法、光信息记录介质重放装置控制程序以及记录有该程序的记录介质

说明书

技术领域

本发明涉及记录有信息的光信息记录介质、光信息记录介质重放装置、光信息记录介质重放装置的控制方法、光信息记录介质重放装置的控制程序以及记录有该程序的记录介质。 

背景技术

近年，为了高速处理视频等大量的信息，要求提高进行记录或重放的光信息记录介质的信息密度。对此，提出了一种对信息进行记录，并对该已记录的信息进行重放的超分辨率技术。在该技术中，利用了记录标记(mark)列或预坑(prepit)列来进行记录或重放，该些记录标记列或预坑列的最短标记长度小于重放装置所具有的光学系统分辨极限(以下称“分辨极限”)。 

在本申请中，预坑呈“凹状”或“凸状”。另外，将利用上述超分辨率技术才可进行重放的光信息记录介质称之为“超分辨率介质”或“超分辨率光信息记录介质”。并将无需使用上述超分辨率技术便能够进行重放的光信息记录介质，即，将通过记录标记列或预坑列的最短标记长度大于重放装置之分辨极限的预坑来进行信息记录的光信息记录介质称为“一般介质”或“一般光信息记录介质”。另外，上述分辨极限由重放装置的重放激光的波长λ以及物镜的开口率NA所决定，其在理论上表示为λ/4NA。 

特别是，主要应用于重放专用光信息记录介质的超分辨率技术，其开发正受到瞩目。在该类超分辨率技术中，记录标记列或预坑列所具有的最短标记长度小于重放装置之分辨极限，通过该些记录标记列或预坑列来记录和重放信息。 

另外，在本申请中，“标记长度”是指，在轨道方向上的预坑长度或/及轨道方向上的相邻预坑间的长度。另外，标记长度大致是信道位(channel-bit)长度的整数倍。例如，在重放专用式DVD(Digital VersatileDisc)中，最短标记长度为0.4μm，其大致为信道位长度的3倍，另外，标记长度的种类数为9种。另外，在重放专用式CD(Compact Disc)中，最短标记长度为0.83μm，其大致为信道位长度的3倍，另外，标记长度的种类数为9种。另外，记录式光信息记录介质中也存在呈“凹”或/及“凸”状的预坑列，其中一部分被用作地址坑，因此，上述超分辨率技术也能够应用于上述记录式光信息记录介质。 

目前，提出了使用热致变色性膜的超分辨率技术以及使用光致变色性膜的超分辨率技术等这些对上述预坑列进行重放的超分辨率技术。 

例如，在专利文献1所示的超分辨率介质中，热致变色性色素层作为掩膜层被设置于反射层的重放光入射面上，该热致变色性色素层的透射率等光学特性会随温度而发生变化。另外，上述掩膜层引发上述激光聚点的模拟性缩小等这些超分辨率现象。 

在专利文献1所示的超分辨率介质中，通过上述重放光入射面附近的重放层上的、上述激光聚点内所发生的温度分布来控制透射率的分布。该温度分布因光强度分布而发生变化。例如，若上述重放层中使用了随温度的升高而使透射率升高的材料时，那么，透射率仅在温度较高部分被提高。所以，上述反射层面上的上述激光聚点会被模拟性地缩小，因此，能够对最短标记长度低于重放装置之分辨极限的预坑列的信号进行重放。 

较之于一般介质，对于超分辨率介质，一般需要有高功率的重放光。这是因为需要利用高功率的重放光在薄膜上发生的热及/或高功率重放光的光量来模拟性地缩小激光聚点的缘故。另外，由超分辨率介质的重放功率值、伺服偏移值、球面像差校正值、倾角等这些重放设定值(为重放所记录的信息而需要的设定值)的变化所带来的超分辨率介质特性(例如误码率(误差发生率))的变化要比一般介质大。这是因为，由于重放光在薄膜上发生的热及/或重放光光量的变化，被模拟性缩小了的激光聚点的光强度分布也会随之发生变化的缘故。 

因此，对于超分辨率介质，优选是在介质中记录有预先设定的最佳重 放设定值。 

例如，专利文献2所示的超分辨率介质中，预先含有最佳重放功率的信息，所以，仅依据焦距伺服便能够随时保持规定的有效聚点径。 

专利文献1：日本国专利申请公开特开平6-162564号公报；1994年6月10日公开。 

专利文献2：日本国专利申请公开特开平7-73506号公报；1995年3月17日公开。 

发明内容

然而，上述超分辨率介质中，预先记录的最佳重放设定值仅仅是使得制造时的超分辨率介质特性成为最佳的值。例如，对最短标记长度低于重放装置之分辨极限的预坑列，仅使该预坑列的误码率达到最佳时的值。