[发明专利]光信息记录介质、光信息记录介质重放装置、光信息记录介质重放装置的控制方法、光信息记录介质重放装置控制程序以及记录有该程序的记录介质

权利要求书

1.一种光信息记录介质，其通过由形状为凸状和凹状的至少一者形 成的预坑来记录信息，该信息通过光信息记录介质重放装置向上述预坑照 射光来进行重放，该光信息记录介质的特征在于：

被设置有信息信号区域和测试引导区域，该信息信号区域中记录有内 容，该测试引导区域中记录有用于调整设定值的重放设定值调整信息，该 设定值是在上述光信息记录介质重放装置进行上述重放时所使用的设定 值；

由多个形成于上述信息信号区域的预坑所构成的第1预坑列的最短标 记长度低于上述光信息记录介质重放装置所具有的光学系统分辨极限长 度；

由多个记录于上述测试引导区域的预坑即多个用于进行上述调整的 预坑所构成的第2预坑列中的标记长度的种类与上述第1预坑列中的标记 长度的一部分种类或所有种类相同；

上述第2预坑列中含有标记长度低于上述光信息记录介质重放装置所 具有的光学系统分辨极限长度的预坑；

上述第1预坑列以及上述第2预坑列中的标记长度有3种以上。

2.根据权利要求1所述的光信息记录介质，其特征在于：

上述测试引导区域的跟踪误差信号的振幅大于上述信息信号区域的 跟踪误差信号的振幅。

3.根据权利要求1或2所述的光信息记录介质，其特征在于：

上述光信息记录介质重放装置的重放激光的波长λ、上述光信息记录 介质重放装置的物镜的开口率NA、上述信息信号区域的轨间距TPi、上 述测试引导区域的轨间距TPt满足TPi＜TPt≤λ/NA这一关系。

4.根据权利要求1或2所述的光信息记录介质，其特征在于：

上述第2预坑列中的上述最短标记长度的预坑相对于上述第2预坑列 中所有预坑的存在几率低于上述第1预坑列中的上述最短标记长度的预坑 相对于上述第1预坑列中所有预坑的存在几率。

5.根据权利要求1或2所述的光信息记录介质，其特征在于：

上述第2预坑列中的最长标记长度的预坑相对于上述第2预坑列中所 有预坑的存在几率高于上述第1预坑列中的最长标记长度的预坑相对于上 述第1预坑列中所有预坑的存在几率。

6.根据权利要求1或2所述的光信息记录介质，其特征在于：

上述第1预坑列的预坑深度Di、上述第2预坑列的预坑深度Dt满足 Di/2≤Dt＜Di这一关系。

7.根据权利要求1或2所述的光信息记录介质，其特征在于：

上述测试引导区域的轨间距TPt、上述第1预坑列的预坑的坑点宽Wi、 上述第2预坑列的预坑的坑点宽Wt满足Wi＜Wt≤TPt/2这一关系。

8.一种光信息记录介质重放装置的控制方法，用于控制该光信息记 录介质重放装置对光信息记录介质的重放，其中，该光信息记录介质通过 由形状为凸状和凹状的至少一者形成的预坑来记录信息，该信息通过上述 光信息记录介质重放装置向上述预坑照射光来进行重放，该光信息记录介 质中被设置有信息信号区域和测试引导区域，该信息信号区域中记录有内 容，该测试引导区域中记录有用于调整设定值的重放设定值调整信息，该 设定值是在上述光信息记录介质重放装置进行上述重放时所使用的设定 值；由多个形成于上述信息信号区域的预坑所构成的第1预坑列的最短标 记长度低于上述光信息记录介质重放装置所具有的光学系统分辨极限长 度；由多个记录于上述测试引导区域的预坑即多个用于进行上述调整的预 坑所构成的第2预坑列中的标记长度的种类与上述第1预坑列中的标记长 度的一部分种类或所有种类相同；上述第2预坑列中含有标记长度低于上 述光信息记录介质重放装置所具有的光学系统分辨极限长度的预坑；上述 第1预坑列以及上述第2预坑列中的标记长度有3种以上，

该光信息记录介质重放装置的控制方法的特征在于包括：

重放步骤，对记录于上述光信息记录介质的期望位置上的信息进行重 放；

控制步骤，根据在上述重放步骤中通过读取上述光信息记录介质的测 试引导区域中的预坑后得到的重放信号来求取上述设定值的最佳值，并根 据上述设定值的最佳值，对上述重放步骤所进行的上述重放进行控制。