[实用新型]测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，特别是涉及一种测试待测板的电气信号的测试装置。

背景技术

印刷电路板组件(printed circuit board assembly，PCBA)在制造完成后，需藉由测试装置对印刷电路板组件进行电器信号的测试，以确保印刷电路板组件的可靠度。

请参阅图1所示，是现有习知的一种测试装置的示意图。现有习知的测试装置100包括一探针基座110、多个探针组120以及一承载件130。探针基座110具有多个贯孔112，每一探针组120包括一可伸缩的探针122与一探针套124。探针套124穿设于贯孔112内并固定于探针基座110上，每一探针套124中并容置一探针122，而探针122可伸缩的部分则露出于探针套124外。承载件130具有一容置槽132，以容置一待测板50。此外，探针基座110更具有多个定位孔114，而承载件130更具有多个定位柱134。承载件130适于沿方向D1移动至测试位置。

请参阅图2所示，是图1的测试装置进行测试时的剖面示意图。当承载件130移动至测试位置时，承载件130的定位柱134分别穿过对应的定位孔114，且由于该容置槽132的底部具有分别对应待测板50的多个测试接点52的多个贯孔133可使探针122分别穿过，因此待测板50上的测试接点52即可分别抵压对应的探针122。探针122分别穿过贯孔133而与测试接点52接触。此外，探针122的底部电性连接至测试模块(图未示)，以使测试模块能通过探针122对待测板50进行测试。

由于待测板50上难免会残留黏性物质(如松香)，当待测板50放到容置槽132中时，容置槽132内也会被黏附残留黏性物质，而探针122与待测板50接触后，黏性物质也会黏附于探针122上。测试装置100经过长时间与不同的测试板50接触测试后，探针122上的黏性物质即会逐渐累积。当探针122上的黏性物质的量累积到一定程度时，探针122容易通过黏性物质而黏附于待测板50上。如此，当从测试装置100取出待测板50时，探针122会随着承载件130移动，而自探针套124中脱离。在现有习知的技术中，为防止因探针122的脱离导致无法完成测试，需经常耗费时间清除黏性物质以维护测试装置100的正常作动，导致测试效率低落。

由此可见，上述现有的测试装置在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为了解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型的测试装置，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。

有鉴于上述现有的测试装置存在的缺陷，本实用新型人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型的测试装置，能够改进一般现有的测试装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本实用新型。

发明内容

本实用新型的目的在于，克服现有的测试装置存在的缺陷，而提供一种新型的测试装置，所要解决的技术问题是使其提高测试效率，非常适于实用。

本实用新型的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本实用新型提出的一种测试装置，适于测试一待测板，且该待测板具有多个测试接点，该测试装置包括：一探针基座；多个探针组，每一探针组包括一探针与一探针套，该探针套固定于该探针基座，该探针具有一第一部分与一第二部分，该第一部分容置于该探针套中，且该第一部分的直径大于该第二部分的直径，该第一部分的一端并具有与该第二部分结合的连接端，而该第二部分可在该第一部分中伸缩；以及一固定板，配置于该探针基座上，该固定板具有分别对应该些探针组的多个锥形贯孔，每一锥形贯孔具有相对的一开口端与一缩口端，且该开口端邻近该探针基座，该些探针的该些第二部分分别穿过该些锥形贯孔，并与该待测板的该些测试接点接触，而该些探针的第一部分的连接端分别抵靠于该些锥形贯孔的孔壁。

本实用新型的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的测试装置，其更包括一承载件，该承载件具有相对的一第一表面与一第二表面，其中，该第一表面适于承载该待测板，而该第二表面则面向该探针基座。

前述的测试装置，其中所述的承载件更具有朝该探针基座延伸的多个定位柱，而该探针基座具有分别对应该些定位柱的多个定位孔，当该承载件移动至一测试位置时，该些定位柱分别穿入该些定位孔。