[实用新型]测试装置有效

专利信息
申请号: 200820140315.6 申请日: 2008-10-10
公开(公告)号: CN201266222Y 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: 蔡竹青;钱顺荣 申请(专利权)人: 环隆电气股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/28;G01R1/073
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿 宁;张华辉
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 测试 装置
【权利要求书】:

1.一种测试装置,适于测试一待测板,且该待测板具有多个测试接点,其特征在于其包括:

一探针基座;

多个探针组,每一探针组包括一探针与一探针套,该探针套固定于该探针基座,该探针具有一第一部分与一第二部分,该第一部分容置于该探针套中,且该第一部分的直径大于该第二部分的直径,该第一部分的一端并具有与该第二部分结合的连接端,而该第二部分可在该第一部分中伸缩;以及

一固定板,配置于该探针基座上,该固定板具有分别对应该些探针组的多个锥形贯孔,每一锥形贯孔具有相对的一开口端与一缩口端,且该开口端邻近该探针基座,该些探针的该些第二部分分别穿过该些锥形贯孔,并与该待测板的该些测试接点接触,而该些探针的第一部分的连接端分别抵靠于该些锥形贯孔的孔壁。

2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于其更包括一承载件,该承载件具有相对的一第一表面与一第二表面,其中,该第一表面适于承载该待测板,而该第二表面则面向该探针基座。

3.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于其中所述的承载件更具有朝该探针基座延伸的多个定位柱,而该探针基座具有分别对应该些定位柱的多个定位孔,当该承载件移动至一测试位置时,该些定位柱分别穿入该些定位孔。

4.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于其中所述的探针,其中每一探针的第一部分的连接端呈配合该些锥形贯孔的渐缩状。

5.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于其中所述的承载件的该第一表面具有一第一容置槽,以容置该待测板。

6.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于其中所述的第一容置槽的底部具有多个贯孔,而该些探针的第二部分分别穿过该些贯孔而分别接触该测试板的该些测试接点。

7.根据权利要求2所述的测试装置,其特征在于其中所述的承载件的该第二表面具有一第二容置槽,以在该承载件移动至一测试位置时,容置该固定板。

8.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于其中所述的固定板通过一锁固件而锁固于该探针基座。

9.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于其中所述的锁固件为一螺丝,该探针基座具有一第一锁固孔,该固定板具有一第二锁固孔,而该锁固件穿过该第二锁固孔而锁固于该第一锁固孔内,且该第二锁固孔容置该螺丝的一螺头端。

10.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于其更包括一测试模块,电性连接至每一探针的第一部分的底部。

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