[实用新型]一种用于锗晶体平面电阻率测量的固定装置

权利要求书

1、一种用于锗晶体平面电阻率测量的固定装置，其特征在于，导轨(2)固定在底座(1)上，轴承(3)安装在导轨(2)上，且沿导轨(2)滑动，底板(4)固定在轴承(3)上，设置4个立臂(6)，立臂(6)通过压环(5)固定在底板(4)上，立臂(6)在底板(4)上沿压环(5)旋转，每个立臂上端都有横臂(7)，横臂(7)自由移动，且由上盖(8)固定在立臂(6)上，横臂(7)的前端设置触头(9)，触头(9)通过紧固螺丝(10)固定在横臂(7)的前端，触头(9)带有倾角，触头(9)上固定胶皮垫，探针(11)在底座(1)的竖直杆上上下移动。

2、根据权利要求1所述的一种用于锗晶体平面电阻率测量的同定装置，其特征在于，所述触头(9)带有倾角为45°。

3、根据权利要求1或2所述的一种用于锗晶体平面电阻率测量的固定装置，其特征在于，所述触头(9)在触头(9)斜面与竖直向下方向呈15～90°角度内自由摆动。