[实用新型]汽车故障电脑诊断仪无效
| 申请号: | 200820091570.6 | 申请日: | 2008-01-11 |
| 公开(公告)号: | CN201149547Y | 公开(公告)日: | 2008-11-12 |
| 发明(设计)人: | 尚燕 | 申请(专利权)人: | 尚燕 |
| 主分类号: | G01M17/007 | 分类号: | G01M17/007 |
| 代理公司: | 深圳市中联专利代理有限公司 | 代理人: | 李俊 |
| 地址: | 518000广东省深圳市罗*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 汽车 故障 电脑 诊断仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及计算机技术及汽车电控技术领域,尤指一种可测汽车故障的诊断装置,其可对汽车故障进行数据测试。
背景技术
20世纪50年代,汽车技术与电子技术开始结合以来,电子技术在汽车上的应用范围越来越广,特别是70年代后,电子技术领域的集成电路、大规模集成电路和超大规模集成电路的发展,为汽车提供了速度快捷、功能强大、性能可靠、成本低廉的汽车电子控制系统。汽车电子控制系统极大地提高了汽车的动力性、经济性、安全性、舒适性,这些汽车电子技术在汽车工业上的广泛应用能够很好地解决全球范围的汽车尾气排放环保问题和能源危机问题。然而,汽车控制系统的高度电子化,又带来了新的问题。一方面,汽车电控系统日趋复杂,给汽车维修工作带来了越来越多的困难,对汽车维修技术人员的要求越来越高:另一方面,电子控制系统的安全容错处理,汽车不能因为电子控制系统自身的突发故障导致汽车失控和不能运行。针对这种情况,汽车电控技术设计人员,在进行汽车电子控制系统设计的同时,增加了故障自诊断功能模块。它能够在汽车运行过程中不断监测电子控制系统各组成部分的工作情况,如有异常,根据特定的算法判断出具体的故障,并以代码形式存储下来,同时起动相应故障运行模块功能,使有故障的汽车能够被驾驶到修理厂进行维修,维修人员可以利用汽车故障自诊断功能调出故障码,快速对故障进行定位和修复。因此,从安全性和维修便利的角度来看,汽车电控系统都应配备故障自诊断功能。自1979年美国通用汽车公司率先在其汽车电控系统中采用故障自诊断功能后,世界上的各大汽车厂商纷纷效仿,在各自生产的电控系统中采用故障自诊断功能。
但是,由于该系统的测试对象为电控汽车,而各汽车生产厂生产的电控汽车的电控模式均不相同,加之汽车电控技术日新月异的发展,使各车电控接口呈多样化态势,现有的故障诊断装置并不能满足这么变化要求;另外,现有的诊断系统只对汽车故障进行数据测试,不能深入到汽车电路具体物理单元,从而对汽车电子信号进行波形测试,查明问题电路及器件,且模拟多种器件及信号波形,进而取代问题器件,精确定位电路及器件故障,容易发生误采购给厂家带来的经济损失。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种汽车故障电脑诊断仪,其可克服现有缺点,系统内置数十个电路接口,以兼容各车电控接口。
本实用新型的次要目的在于提供一种汽车故障电脑诊断仪,该装置不但可对汽车故障进行数据测试,迅速找到问题所在,还可深入到汽车电路具体物理单元,对汽车电子信号进行波形测试,查明问题电路及器件,并可模拟多种器件及信号波形,进而取代问题器件,精确定位电路及器件故障,减少误采购给厂家带来的经济损失。
为实现上述目的,本实用新型所采用技术方案为:一种汽车故障电脑诊断仪,其包括:主控单元、与主控单元用总线连接的液晶显示单元、与主控单元用总线和控制信号线连接的程序和数据存储单元及与主控单元用总线和I/O线连接的键盘单元,其中:其还包括与主控单元通过串行总线连接的串行接口单元、与主控单元通过串行总线连接的USB接口单元及扩展单元。
所述的扩展单元包括用于产生时钟的GAL器件、电平转换器件、9针连接器。
所述汽车故障电脑诊断仪,其还包括与所述串行接口单元连接的逻辑和测试单元及数据测试单元。
所述的逻辑和测试单元以MCS51单片机与主控单元的串行总线相连,其上还设有CAN总线、KWP、ISO、PWM、VPW物理接口。
所述的主控单元包括微处理器及两个GAL器件。
所述的液晶显示单元包括与主控单元数据总线并行连接的液晶驱动器及从液晶驱动器那接收所要显示数据的液晶显示器。
所述的键盘单元包括可锁存键盘扫描输出数据的锁存器、可输入键盘扫描数据键盘接口及薄膜开关的,键盘接口与微处理器及薄膜开关连接。
所述的程序和数据存储单元为可装入运行数据和程序的随机存储器。
所述的串行接口单元包括并行输出锁存器、并行输入缓冲器及25针连接器,并行输出锁存器与主控单元的数据总线连接,并行输出锁存器把数据输出至25针连接器,并行输入缓冲器把由25针连接器得到的读入数据经过缓冲后送至主控单元的数据总线,25针连接器与主控单元的微处理器串行信号连接,25针连接器可分别连接波形测试电路和数据测试电路。
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