[发明专利]高度规及高度测量方法

权利要求书

1.一种高度规，包括底座、导柱、延伸杆以及量测部，所述导柱固定于底座， 所述延伸杆包括可滑动的套设于导柱的滑动部，用于沿导柱的轴向移动，所 述量测部设于延伸杆远离导柱的一端，其特征在于，所述量测部包括基准杆、 高度量测表、测量杆、固定架、第一探针与第二探针，基准杆固定于延伸杆， 高度量测表固定于基准杆，测量杆可滑动的套设于基准杆，固定架连接于测 量杆远离基准杆的一端，第一探针与第二探针可转动的连接于固定架并可相 对张开成一预定夹角，当进行测量时第一探针及第二探针的末端同时与待测 量面的相对两侧紧密接触。

2.如权利要求1所述的高度规，其特征在于，所述固定架具有空腔以及横跨 该空腔且固定于固定架的固定轴，所述第一探针与第二探针可转动的连接于 固定架的固定轴。

3.如权利要求2所述的高度规，其特征在于，所述空腔具有垂直于固定轴的 两相对内壁，固定轴上位于第一探针与其一侧内壁以及第二探针与其另一侧 内壁间均设置有处于压缩状态的固定弹簧。

4.如权利要求1所述的高度规，其特征在于，所述导柱与滑动部间设置固定 螺丝，固定螺丝可自滑动部向导柱方向旋紧，以使滑动部相对固定于导柱。

5.如权利要求1所述的高度规，其特征在于，所述第一探针与第二探针的长 度相等。

6.如权利要求1所述的高度规，其特征在于，所述第一探针与第二探针靠近 底座一端均具有测量探头，测量探头用于与待测面接触以获取其高度位置。

7.一种高度测量方法，包括步骤：

提供待测量元件以及如权利要求1所述的高度规，所述待测量元件具有一 个基准面和一个待测量面；

旋转第一探针和第二探针至预定夹角，并使第一探针与第二探针与待测量 元件的基准面的相对两侧紧密接触；

使第一探针和第二探针与待测量元件的待测量面紧密接触并保持第一探 针与第二探针的预定夹角不变；

根据高度量测表获取待测量面与基准面间的高度距离。

8.如权利要求7所述的高度测量方法，其特征在于，使第一探针和第二探针 与待测量元件的基准面紧密接触后，将高度量测表调零。