[发明专利]电子装置及其周期性测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种装置及其测试方法，特别是关于一种电子装置及其周期性测试方法。

背景技术

随着电子技术的飞速发展，市场竞争日益激烈，电子装置的可靠性越来越为客户和制造商所重视。如果电子装置中的一些重要元器件出现异常，将影响其正常使用，给客户带来维修或者退/换货的麻烦，也给制造商造成损失。

平均故障间隔时间(Mean Time Between Failure，MTBF)，也称平均无故障时间，是衡量可维修的产品(如电子装置)可靠性的重要指标。具体而言，MTBF是指相邻两次故障之间的平均工作时间，它反映了产品的时间质量，体现了产品在规定时间内保持功能的一种能力。MTBF对于客户是非常有价值的，有助于客户在购买之前评价产品质量。MTBF对于制造商也是非常有价值的，MTBF测试是在设计方案用于生产之前要做的工作，MTBF测试有助于揭示产品的弱点，使制造商以最少的费用来对这些弱点进行改进。MTBF测试成为电子装置的一个重要测试项目。

MTBF主要考虑的是产品中各个元器件的可靠性。MTBF测试通常模拟产品的实际使用情况，在设定的时间内对产品的各个功能进行周期性地测试，即周期性地执行产品的各个功能。周期性测试结束后，再对产品的各个功能进行验证。例如，手机的MTBF测试需要周期性地测试发送、接收、背光、铃声和震动等功能。现有的MTBF测试方法是将待测的电子装置通过USB接口或者UART接口与测试设备(如计算机)连接，由测试设备对电子装置各个功能的执行过程进行控制。这种测试方法需要额外的测试设备，提高了测试要求，增加了测试成本。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种可进行周期性测试的电子装置。

此外，还有必要提供一种无需额外测试设备的电子装置周期性测试方法。

一种可对其各个功能进行周期性测试的电子装置，该电子装置包括：设置模块，用于设置该电子装置的测试总时间及各个测试状态对应的切换时刻，所述切换时刻是该电子装置不同测试状态进行切换的时刻；初始化模块，用于启动该电子装置内建的计时器，并使该电子装置进入初始的测试状态；第一判断模块，用于根据计时器的计时时间判断是否到达设置的各个切换时刻；状态切换模块，用于当设置的各个切换时刻到达时，将该电子装置切换到各个相应的测试状态；及第二判断模块；用于根据计时器的计时时间判断是否到达设置的测试总时间。

一种电子装置周期性测试方法，用于对电子装置的各个功能进行周期性测试，该方法包括步骤：设置电子装置的测试总时间及各个测试状态对应的切换时刻，所述切换时刻是该电子装置不同测试状态进行切换的时刻；启动该电子装置内建的计时器，并使该电子装置进入初始的测试状态；根据计时器的计时时间判断是否到达设置的各个切换时刻；当设置的各个切换时刻到达时，将该电子装置切换到各个相应的测试状态；及根据计时器的计时时间判断是否到达设置的测试总时间，若设置的测试总时间到达，结束测试。

本发明不需要增加额外的测试设备，即可实现电子装置各个功能的周期性测试。

附图说明

图1为本发明电子装置较佳实施例的功能模块图。

图2为手机的MTBF测试在一个测试周期内的测试状态示意图。

图3为本发明电子装置周期性测试方法较佳实施例的流程图。

具体实施方式

本发明以电子装置内建的计时器为基础，根据计时器的计时时间对测试过程进行控制。所述计时器可以通过电子装置内部的硬件实现，也可以通过运行在电子装置内的软件实现。

参阅图1所示，是本发明电子装置较佳实施例的功能模块图。所述电子装置1包括设置模块100、初始化模块101、第一判断模块102、状态切换模块103及第二判断模块104。所述电子装置1可以是手机、个人数字助理(PDA)、全球卫星定位系统(GPS)或其他嵌入式电子设备。在本实施例中，以手机为例进行说明。

所述设置模块100用于设置电子装置1平均故障间隔时间(MTBF)测试的测试总时间及各个测试状态对应的切换时刻。电子装置1的MTBF测试通常模拟该电子装置1的实际使用情况，对电子装置1的各个功能进行周期性地测试，也就是周期性地执行电子装置1的各个功能。所述测试总时间是预估的电子装置1的MTBF值，也就是对电子装置1进行测试的时间，例如为1000小时。