[发明专利]一种CF显示面板以及加工方法有效
申请号: | 200810241332.3 | 申请日: | 2008-12-17 |
公开(公告)号: | CN101458355A | 公开(公告)日: | 2009-06-17 |
发明(设计)人: | 胡安春;吴永光;温景成;董坚 | 申请(专利权)人: | 深圳市力合薄膜科技有限公司 |
主分类号: | G02B5/23 | 分类号: | G02B5/23;B32B17/06;C23C14/35;B08B3/12;B08B11/04 |
代理公司: | 深圳市中知专利商标代理有限公司 | 代理人: | 吕晓蕾 |
地址: | 518024广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 cf 显示 面板 以及 加工 方法 | ||
1.一种CF显示面板,其特征在于它包括钠钙玻璃基板,在所述的钠钙玻璃基板上设置有二氧化硅SiO2膜层,在所述的二氧化硅SiO2层上再设置一层AlNd膜层;所述的钠钙玻璃基板设置二氧化硅SiO2层后的钠钙玻璃基板透过率为90.5~91.5%,二氧化硅SiO2膜厚为设置AlNd层后的钠钙玻璃基板的反射率89~92%、方阻0.6~0.8Ω/□、所述的AlNd膜层厚度为
2.一种用于加工权利要求1中所述的CF显示面板的加工方法,其特征在于它包括如下工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为70℃,镀膜室传动速度频率为17Hz,加热时间10分钟后,在4号室镀SiO2,SiO2溅射功率4500W、氧气O2流量为30Sccm、铬Ar流量200~220Sccm、镀膜室真空度为4.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间,加热15分钟后镀AlNd膜:总气压为0.40~0.45Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为200~220Sccm、镀膜室真空度4.0*10-1Pa~4.5*10-1Pa之间;所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2的膜厚为SiO2透过率为90.5%、AlNd膜厚AlNd膜的反射率为89%、方阻为0.6Ω/□。
3.一种用于加工权利要求1中所述的CF显示面板的加工方法,其特征在于它包括如下工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗,再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为65℃,镀膜室传动速度频率为14Hz,加热时间15分钟后,在4号室镀二氧化硅SiO2,二氧化硅SiO2溅射功率为4200W、氧气O2流量为25Sccm、铬Ar流量180~200Sccm、镀膜室真空度3.5*10-1Pa~4.0*10-1Pa之间,加热20分钟后镀AlNd膜膜:总气压为0.35~0.40Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室Ar流量为180~200Sccm、镀膜室真空度3.5*10-1Pa~4.0*10-1Pa之间,所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2膜厚为二氧化硅SiO2透过率为91.5%、AlNd膜厚为AlNd膜的反射率为90.5%、方阻为0.7Ω/□。
4.一种用于加工权利要求1中所述的CF显示面板的加工方法,其特征在于它包括如下工艺步骤:
A:清洗装片:在进行镀膜之前对钠钙玻璃进行超声波预清洗、再使用平板清洗、热烘干燥后,上架装片镀膜,装片使用专用铝框防止绕射;
B:镀膜:镀膜采用LHKJ立式全自动连续磁控溅射镀膜机,用于与氧化硅SiO的相反应的气体纯度氧气O2为99.99%、溅射气体为铬Ar,纯度为99.99%;钠钙玻璃基片加热温度为55℃,镀膜室传动速度频率为11Hz,加热时间20分钟后,在4号室镀SiO2,SiO2溅射功率4000W、氧气O2流量为20Sccm、铬Ar流量160~180Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~3.5*10-1Pa之间,加热30分钟后镀AL膜:总气压为0.3~0.35Pa,使用6个靶进行镀膜,镀膜室铬Ar流量为160~180Sccm、镀膜室真空度3.0*10-1Pa~3.5*10-1Pa之间所产出的CF显示面板中的二氧化硅SiO2膜厚为二氧化硅SiO2透过率为91%、AlNd膜厚为AlNd膜的反射率为92%、方阻为0.8Ω/□。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市力合薄膜科技有限公司,未经深圳市力合薄膜科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810241332.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:厚铝成膜工艺方法
- 下一篇:磷硅玻璃生长工艺及磷硅玻璃