[发明专利]一种双面钝化和激光打点制备背点接触晶体硅太阳电池的方法无效

专利信息
申请号: 200810207487.5 申请日: 2008-12-22
公开(公告)号: CN101447528A 公开(公告)日: 2009-06-03
发明(设计)人: 陶龙忠;邢国强 申请(专利权)人: 上海晶澳太阳能光伏科技有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 广州知友专利商标代理有限公司 代理人: 李海波
地址: 200436*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 双面 钝化 激光 打点 制备 点接触 晶体 太阳电池 方法
【权利要求书】:

1.一种双面钝化和激光打点制备背点接触晶体硅太阳电池的方法,其特征在于:在常规晶体硅太阳电池制备工艺的基础上,对太阳电池前后表面进行双面钝化,然后利用激光在太阳电池后表面钝化层上快速打点,形成背电极局部接触窗口,丝网印刷或磁控溅射电极后,制备成效率较高的背点接触晶体硅太阳电池。

2.根据权利要求1所述的双面钝化和激光打点制备背点接触晶体硅太阳电池的方法,其特征在于:电池的双面钝化为双面单层钝化或双面叠层钝化。

3.根据权利要求2所述的双面钝化和激光打点制备背点接触晶体硅太阳电池的方法,其特征在于:对于双面单层钝化,前表面采用氮化硅薄膜,后表面采用氮化硅薄膜、氧化硅薄膜、碳化硅薄膜、非晶硅薄膜或微晶硅薄膜。

4.根据权利要求2所述的双面钝化和激光打点制备背点接触晶体硅太阳电池的方法,其特征在于:对于双面叠层钝化,前表面采用氮化硅/氧化硅薄膜体系,背表面采用氮化硅/氧化硅薄膜体系、氮化硅/非晶硅薄膜体系或氮化硅/微晶硅薄膜体系。

5.根据权利要求1所述的双面钝化和激光打点制备背点接触晶体硅太阳电池的方法,其特征在于:背电极的局部接触窗口采用激光打点烧透钝化膜而实现。

6.根据权利要求1所述的双面钝化和激光打点制备背点接触晶体硅太阳电池的方法,其特征在于:背电极的制备方式为丝网印刷或磁控溅射方式。

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