[发明专利]集尘装置、自动清洁装置及自动清洁方法有效
申请号: | 200810175431.6 | 申请日: | 2008-11-12 |
公开(公告)号: | CN101733257A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | 林享怡;陈世坤;郭信麟 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | B08B5/04 | 分类号: | B08B5/04;B08B13/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 集尘 装置 自动 清洁 方法 | ||
技术领域
本发明是有关于一种清洁装置及清洁方法,且特别是有关于一种自动 清洁装置及自动清洁方法。
背景技术
集成电路的制造需要极高的洁净度,方能使制造出的集成电路达到所 预期的功能与目的。在目前半导体的技术发展之下,集成电路要求的集成 度也更加地提高。因此,对制造半导体元件的机台等的微尘的清除是非常 重要的工作。
脚位/正印扫描机台(Lead/Mark Scanner)为业界使用于检测芯片外观 的检测仪器,其使用的玻璃基座(含载台)于检测时如有异物残留,如微粒 或胶渣等异物,则在检测过程中会让脚位/正印扫描机台将正常的产品误判 为故障的产品,而导致产品良率下降及制造成本上升等问题。
虽然原厂的脚位/正印扫描机台具有吹气装置,但因异物与玻璃基座之 间的粘着性或静电值的影响,会使得这些异物出现难以吹除的情况。
发明内容
有鉴于此,本发明的目的在于提供一种自动清洁装置,可自动地且有 效率地清洁半导体机台的透光基座。
本发明的另一目的是提供一种自动清洁方法,以提升产品良率及降低 制造成本。
本发明提出一种自动清洁装置,用于清洁半导体机台中的一透光基 座,自动清洁装置包括集尘装置及开关。集尘装置包括抽气装置、吸尘主 体、刷毛及移动装置。吸尘主体与抽气装置相通且具有吸入口。刷毛沿着 吸入口的轮廓设置于吸尘主体上。移动装置用以移动设置于移动装置上的 吸尘主体。开关电性连接集尘装置与半导体机台,用以接收半导体机台所 发出的启动信号,使集尘装置在作动时间内清洁透光基座;其中,该半导 体机台包括一脚位/正印扫描机台,该脚位/正印扫描机台包括:该透光基 座;一载台,设置于该透光基座上;以及一芯片拾取装置,设置于该透光 基座的一侧,用以拾取位于一进料位置上的一芯片盘中的一芯片,且将该 芯片置放于该载台上。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,更包括可编 程逻辑控制器,电性连接集尘装置与开关,以编写程控作动时间。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,开关包括电 磁阀。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,移动装置包 括芯片拾取装置,且吸尘主体位于芯片拾取装置靠近透光基座的一侧。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,移动装置更 包括升降装置,设置于芯片拾取装置靠近透光基座的一侧的侧壁上,以垂 直移动吸尘主体。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,启动信号包 括芯片盘离开进料位置时所送出的信号。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,脚位/正印扫 描机台更包括推进器,用以将芯片盘推入或推出进料位置。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,启动信号包 括推进器要将芯片盘推出进料位置时用以驱动推进器的信号。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,刷毛的长度 例如是大于该载台的高度。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,抽气装置包 括真空泵。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,吸尘管路, 连通抽气装置与吸尘主体。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,更包括过滤 器,设置于抽气装置与吸尘主体之间。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,刷毛的材料 包括抗静电材料。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,刷毛包括环 状刷毛。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,移动装置包 括升降装置,以垂直移动吸尘主体。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,透光基座包 括基座部。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,基座部的材 料包括可透光材料。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,可透光材料 包括玻璃。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,透光基座更 包括涂布层,设置于该基座部上。
依照本发明的一实施例所述,在上述的自动清洁装置中,涂布层的材 料包括白色乳胶。
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