[发明专利]校准电路以及相应方法有效

专利信息
申请号: 200810147278.6 申请日: 2008-08-26
公开(公告)号: CN101534131A 公开(公告)日: 2009-09-16
发明(设计)人: 李宗霖;张湘辉;傅家煌;叶恩祥;廖学坤;陈界弘 申请(专利权)人: 联发科技股份有限公司
主分类号: H04B1/16 分类号: H04B1/16;H04B1/12;H04B17/00
代理公司: 北京万慧达知识产权代理有限公司 代理人: 葛 强;张一军
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 校准 电路 以及 相应 方法
【权利要求书】:

1.一种校准电路,用于校准解调器的输出电平,包含:

测试信号产生器,耦接至上述解调器,用于产生测试信号;

接收信号强度指示器模块,耦接至上述解调器及上述测试信号产 生器,用于检测上述测试信号以产生控制信号,其中上述控制信号控 制上述解调器以处理上述测试信号并产生输出信号;以及

校准模块,耦接至上述解调器与上述接收信号强度指示器模块, 用于根据上述输出信号校准上述接收信号强度指示器模块以校准上述 解调器的上述输出电平。

2.如权利要求1所述的校准电路,其特征在于,上述测试信号 产生器与上述解调器构建于同一芯片中。

3.如权利要求1所述的校准电路,其特征在于,上述控制信号 包含第一控制信号与第二控制信号,分别对应于上述测试信号与上述 接收信号强度指示器模块中参考电压源的参考电压电平;上述输出信 号包含第一输出信号与第二输出信号,其中上述解调器根据上述第一 控制信号与上述第二控制信号产生上述第一输出信号与上述第二输出 信号;上述测试信号产生器根据既定信号强度产生上述测试信号,以 及上述校准模块包含:

比较器,耦接至上述解调器,用于确定上述第一输出信号是否等 于上述第二输出信号以产生比较结果;以及

控制器,耦接至上述比较器与上述接收信号强度指示器模块,用 于当上述比较结果指示上述第一输出信号不等于上述第二输出信号 时,根据上述比较结果校准从上述接收信号强度指示器模块产生的上 述控制信号。

4.如权利要求3所述的校准电路,其特征在于,上述控制器是 连续近似缓存器。

5.如权利要求3所述的校准电路,其特征在于,上述控制器校 准上述接收信号强度指示器模块的输入电压偏移。

6.如权利要求5所述的校准电路,其特征在于,上述控制器通 过根据上述比较结果校准上述参考电压源的上述参考电压电平来校准 上述接收信号强度指示器模块的上述输入电压偏移。

7.如权利要求3所述的校准电路,其特征在于,上述控制器校 准上述接收信号强度指示器模块的增益变化。

8.如权利要求7所述的校准电路,其特征在于,上述控制器通 过根据上述比较结果校准上述接收信号强度指示器模块的输出增益以 校准上述接收信号强度指示器模块的上述增益变化。

9.如权利要求8所述的校准电路,其特征在于,上述控制器根 据上述比较结果通过校准上述接收信号强度指示器模块的放大器的增 益来校准上述接收信号强度指示器模块的上述输出增益,其中上述放 大器是用于产生上述第一控制信号与上述第二控制信号给上述解调 器。

10.如权利要求8所述的校准电路,其特征在于,上述解调器包 含:

第一晶体管,具有用于接收上述第一控制信号的控制端,耦接至 电流源的第一端,以及用于输出上述第一输出信号的第二端;以及

第二晶体管,具有用于接收上述第二控制信号的控制端,耦接至 上述电流源的第一端,以及用于输出上述第二输出信号的第二端;

其中当上述控制器校准上述接收信号强度指示器模块的上述输出 增益时,耦接至上述第一晶体管的第二端的阻抗被控制为不等于耦接 至上述第二晶体管的第二端的阻抗。

11.如权利要求1所述的校准电路,其特征在于,更包含多任务 器,耦接至上述测试信号产生器、上述解调器与上述接收信号强度指 示器模块,用于选择性地输出上述测试信号给上述解调器或上述接收 信号强度指示器模块。

12.如权利要求1所述的校准电路,其特征在于,上述控制信号 是用于选择性地使能或取消上述解调器中柔和静音递减操作。

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