[发明专利]一种大米粒型检测的方法无效
| 申请号: | 200810111705.5 | 申请日: | 2008-05-16 |
| 公开(公告)号: | CN101275824A | 公开(公告)日: | 2008-10-01 |
| 发明(设计)人: | 侯彩云;祝晓芳;孙建平;尚艳芬;常国华;芮闯 | 申请(专利权)人: | 中国农业大学 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/02;G06K9/00;G06K9/46;G01N33/10 |
| 代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张文宝 |
| 地址: | 100083北京市海淀区清*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 米粒 检测 方法 | ||
1.一种大米粒型检测的方法,其特征在于包括下列步骤:
获取米粒图像信息;
识别出整的大米粒和碎米粒;
计算大米粒型。
2.根据权利要求1所述的一种大米粒型检测的方法,其特征在于,所述获取米粒图像信息具体包括下列步骤:
将米样置于图像采集器中,采集原始图像信息;
读取原始图像信息,并将背景色设置为与米粒颜色相区别的颜色,分割背景与米粒。
3.根据权利要求2所述的一种大米粒型检测的方法,其特征在于,所述米样数量为10-1000粒。
4.根据权利要求2所述的一种大米粒型检测的方法,其特征在于,所述分割背景与米粒的方法为迭代法。
5.根据权利要求4所述的一种大米粒型检测的方法,其特征在于,所述迭代法具体包括下列步骤:
求出图像中的最大和最小灰度值Z1和Zk,令阈值初值Tk=(Z1+Zk)/2;
根据阈值Tk将图像分割成目标和背景两部分,求出两部分的平均灰度值Z0、ZB;
求出新阈值Tk+1=(Z0+ZB)/2;
若Tk=Tk+1,则所得即为阈值,否则根据计算出的Tk值继续计算阈值,迭代计算。
6.根据权利要求2所述的一种大米粒型检测的方法,其特征在于,所述分割背景与米粒时,背景颜色选择纯黑色即RGB(0,0,0)。
7.根据权利要求1所述的一种大米粒型检测的方法,其特征在于,所述大米粒型计算具体包括下列步骤:
计算整米粒轮廓上每两点的距离,找出距离最大的两个像素点,两点距离做为大米粒的长L;
L将轮廓分割为两部分,分别找出两边轮廓上与L垂直距离最远的点,其距离分别记为R1、R2,R1+R2即为大米粒的宽W;
依次计算每粒整大米粒的长度和宽度,求出总长度和总宽度,二者比值为大米长宽比,即粒型。
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