[发明专利]适用于显示屏离线全检的光学量测设备及量测方法

说明书

【技术领域】

本发明是关于一种用于显示屏光学特性量测设备及量测方法，特别是指一种适用于显示屏离线全检的光学量测设备及量测方法。

【背景技术】

LCD(Liquid crystal display，液晶显示屏)的光学特性量测依其测试场合、测试精度需求，常见的有：

1)针对少量的高精度要求的检测场合，这时常需要使用一套搭建在实验室的复杂昂贵的光学量测系统，比如WESTAR公司的型号为FPM-520的光学量测系统，该系统除了有特定的光学量测设备外，还有一套非常复杂精密的自动化定位系统，可以实现量测设备和待测模组之间的复杂定位关系，这套系统通常自带信号发生系统，来控制模组的画面显示，这类系统的特点是自动化程度高，测试功能完善、测试结果精度高，缺点则是系统庞大/昂贵，测试效率低，不适合批量测试。

2)针对批量中等精度要求的检测场合，比如传统的LCD全检的方案是将某一光学量测设备集成到流水线上的特定站别，该站别通常提供一模组定位装置，另外光学量测设备也会有另一个相关联的定位装置，当模组到达该站别后会被定位装置卡到特定位置，这时再将光学量测设备通过其定位装置移动到相对模组的某个特定位置，比如量测设备的测试轴线垂直对准模组的中心位置，然后由操作员通过一些开关来调整显示画面并控制完成各项测试，即该方式适用于流水线的作业方式。

3)另外还有一种适合小型实验室使用的光学测试设备，类似美能达的CA-210，这类系统通常具有类似图1所示的结构，包括具有显示屏的控制主机，及与控制主机连接的测试头，该类设备通常仅提供可简单定位的测试头，测试结果则连续显示在对应的控制主机的显示屏上。实际应用时，需要使用者提供待测模组的定位方法并为其提供信号系统，并需要对测试结果自行攫取并做相应处理。这种设备特点是便携、价格相对低廉，适合小型实验室用，但不适合现场的批量测试。

目前仍有大量LCM(LCD module，液晶显示器模组)厂使用Off-line(离线)的方式生产，若需要批量检测产品光学特性，而方式1、3显然又不适合批量测试。鉴于对显示屏的光学品质要求日益提高，配合Off-Line作业方式提供一种可执行的光学特性全检方案成为目前液晶显示器模组厂的迫切需求。

【发明内容】

本发明所要解决的技术问题之一在于提供一种配合Off-Line作业方式的适用于显示屏离线全检的光学量测设备。

本发明所要解决的技术问题之二在于提供一种配合Off-Line作业方式的适用于显示屏离线全检的光学量测方法。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题之一的：一种适用于显示屏离线全检的光学量测设备，包括测试头、测试控制/数据处理模块，和个人电脑，其中测试头连接于测试控制/数据处理模块，测试控制/数据处理模块连接于个人电脑，还包括可移动的小车，所述测试控制/数据处理模块与个人电脑统一装载在可移动的小车上，所述测试头包括作为测试探头的手持部和辅助定位块，其中辅助定位块包括套在测试头头部的套筒以及一体连接延伸出套筒的外端并向外呈圆锥形放大的接触部，所述接触部的最外端形成的平面与手持部的轴线成一定角度，当测试头置于显示屏上时，接触部的最外端完全贴合在显示屏的表面上，所述测试头上安装有触发器。

所述接触部的最外端形成的平面与手持部的轴线垂直。

所述辅助定位块的套筒与接触部交界的位置设有至少一个挡块，手持部止挡于该挡块，另外，辅助定位块的套筒上开设有至少一个螺孔，锁固在该螺孔内的螺栓顶住手持部，使辅助定位块定位在手持部的前端。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题之二的：一种适用于显示屏离线全检的光学量测方法，包括依次进行的下述步骤：

步骤100：模组点灯，使用点灯机台单片点灯，或者使用高温炉多片同时点灯；

步骤200：启动待测模组的显示屏的测试画面；

步骤300：作业人员手持测试头的手持部，利用辅助定位块完成对待测模组的显示屏的测试画面定位；

步骤400：触动手持部上的触发器，给个人电脑一个触发信号，个人电脑利用其上运行的控制程序完成一次量测；

步骤500：完成单片测量；

步骤600：完成测试结果判断记录；

步骤700：移动测试头，开始定位下一片待测模组的显示屏的测试画面，并返回步骤400。

所述步骤400中的控制程序包括依次进行的下述步骤：

步骤410：等待触发信号；

步骤420：接收触发信号；

步骤430：控制硬件完成一次量测；