[发明专利]电光学装置、其检查方法以及电子设备

说明书

本申请是申请日为2005年5月19日、申请号为200510072749.8、发明名称为“电光学装置、其检查方法以及电子设备”的分案申请。

技术领域

本发明涉及检查利用了从电作用变换为光学作用的元件或者从光学作用变换为电作用的元件(以下总称为“电光学元件”)的电光学装置的技术。

背景技术

利用了液晶和有机发光二极管元件(以下称为“OLED(有机发光二极管)元件”)等的电光学元件的电光学装置广泛普及。例如，由薄膜晶体管等的开关元件控制电光学元件的动作的多个单位电路(像素电路)以平面状配置的有源矩阵型的电光学装置以前就被提出。在这种电光学装置中，各单位电路的特性(例如开关元件的电特性)的误差特别成问题。为了解决此问题，例如在专利文献1中，记载了和单位电路分别形成与在各单位电路中所包含的开关元件具有同样构成的开关元件，通过检查其电特性检查各单位电路的特性的技术。

但是，在作为电光学元件利用了液晶的电光学装置中，由于液晶本身的特性对于全部的单位电路是大致相同的，所以只要检查各单位电路之中开关元件的特性，就能够对于全部的单位电路判断特性差异的有无。但是，在电光学元件是对每个单位电路分别形成的电光学装置中，不只是开关元件的特性，电光学元件的特性也有存在差异的可能性，所以只检查开关元件特性的优良，作为单位电路全体的检查来说是不充分的。例如，由喷墨法和真空蒸镀法这样的方法形成作为电光学元件的OLED元件的情况下，各单位电路中OLED元件的特性虽然产生不少的差异，但根据专利文献1中记载的技术不能检查到各单位电路的OLED元件的特性。还有，这样的问题不只是存在于从电作用变换为光学作用(例如亮度)的OLED元件等的电光学元件中，在利用为了从光学作用变换为电作用的电光学元件(例如，输出和受光量相对应的电信号的光电检测元件)的电光学装置中也产生同样的问题。

专利文献1：特开平11-167123号公报(段0019以及图1)

发明内容

本发明是鉴于这样的情况进行的发明，目的在于对排列了包括电光学元件和控制它的控制电路的多个单位电路的电光学装置有效地进行检查。

为了解决上述的问题，本发明包括：分别具有电光学元件和控制该电光学元件的控制电路的多个单位电路、输入为了驱动所述电光学元件的检查信号的检查端子、能获取在所述多个单位电路之中作为检查对象被选择的检查单位电路的电光学元件和所述检查端子之间设置的、使所述检查单位电路的电光学元件和所述检查端子电绝缘的第1状态以及使所述检查单位电路的所述电光学元件和所述检查端子电导通的第2状态的检查信号提供元件。

根据此构成，因为从检查端子输入的检查信号经由作为第2状态的检查信号提供元件被提供给检查单位电路的电光学元件，所以能只独立检查单位电路之中电光学元件的特性。还有，本发明中所谓电光学元件是包括从电作用变换为光学作用的元件以及从光学作用变换为电作用的元件两方面的概念。关于前者的电光学元件是例如根据提供的电信号，光学特性(例如亮度和透过率)产生变化的元件。这种电光学元件的典型例子有利用了发光聚合物和发光低分子材料的有机EL(电致发光)元件，但本发明适用的范围不限定于此。另一方面，关于后者的电光学元件是例如根据对该电光学元件的入射光的特性(例如入射光量)，输出电信号的元件。这种电光学元件的典型例子有根据入射光的光量输出电信号的CCD(电荷耦合器件)元件等的光电检测元件。

在本发明的具体形式中，配置了输入检查指示信号的检查输入端子，该检查指示信号指示电光学元件的检查的执行，检查信号提供元件是根据从检查输入端子输入的检查指示信号，将第1状态以及第2状态的一种状态切换为另一种状态的开关元件。根据此形式，第1状态和第2状态由检查指示端子被适当地切换，开关元件作为第2状态进行检查的另一方面，在通常的使用状态下，通过将开关元件作为第1状态，抑制检查端子对检查单位电路的影响(例如检查端子附带的寄生电容的影响和在检查端子产生的噪声的影响)。