[发明专利]光盘、记录装置、读取装置、记录方法及读取方法无效

专利信息
申请号: 200810099110.2 申请日: 2006-01-13
公开(公告)号: CN101266825A 公开(公告)日: 2008-09-17
发明(设计)人: 甲斐田优;伊藤基志 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 王英
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光盘 记录 装置 读取 方法
【权利要求书】:

1.一种用于将表明一次写入式光盘缺陷区的缺陷区列表写入以簇为单 位将数据记录在上面的所述一次写入式光盘的记录装置,所述记录装置包 括:

生成单元,用于生成结构信息,所述结构信息包括多条位置信息,所 述多条位置信息表明每个都包括所述缺陷区列表一部分的多个簇的簇位 置;以及

写入单元,用于将生成的所述结构信息与所述缺陷区列表一起写入所 述一次写入式光盘的临时缺陷管理区中,其中

所述临时缺陷管理区有一个部分,在其中按照以下顺序排列所述缺陷 区列表的多个部分:

(1)缺陷区列表里在初始写入中成功写入的一部分;

(2)缺陷区列表里在重试写入中成功写入的一部分;以及

(3)缺陷区列表里最后一簇包括所述结构信息的一部分。

2.如权利要求1所述的记录装置,还包括

验证单元,用于在已经写入缺陷区列表的每一部分时,验证缺陷区列 表的每一部分,其中

如果写入有缺陷区列表一部分的簇A被验证为缺陷簇,则该写入单元 进行重试,以将簇A中的缺陷区列表的所述部分写入簇B中,并且

所述临时缺陷管理区具有缺陷区列表的第(2)部分。

3.如权利要求1所述的记录装置,还包括

验证单元,用于在已经写入除了最后一个缺陷区列表以外的缺陷区列 表中每一部分时,验证缺陷区列表的每一部分,其中

如果写入有缺陷区列表一部分的簇A被验证为缺陷簇,则该写入单元 进行重试,以将簇A中的缺陷区列表的所述部分写入簇B中,并且

所述临时缺陷管理区具有缺陷区列表的第(2)部分。

4.一种读取装置,用于从以簇为单位将数据记录在上面的一次写入式 光盘上记录的临时缺陷管理区读取缺陷区列表以及结构信息,其中

所述临时缺陷管理区有一个部分,在其中按照以下顺序排列所述缺陷 区列表的多个部分:

(1)缺陷区列表里在初始写入中成功写入的一部分;

(2)缺陷区列表里在重试写入中成功写入的一部分;以及

(3)缺陷区列表里最后一簇包括结构信息的一部分,

缺陷区列表的每一部分都表明所述光盘中的至少一个缺陷区,

所述结构信息包括多条位置信息,所述多条位置信息表明每个都包括 所述缺陷区列表一部分的多个簇的簇位置,

所述读取装置包括:

读取单元,用于按照该结构信息中排列与所述缺陷区列表对应的所述 多条位置信息的顺序,从所述光盘将所述缺陷区列表读出到存储器;

保存单元,用于保存读出到所述存储器的所述缺陷区列表;以及

访问单元,用于在高级装置指示访问由所述缺陷区列表表明的缺陷区 时,访问对应于该缺陷区的备用区,而不是该缺陷区。

5.一种记录方法,用于将表明一次写入式光盘上缺陷区的缺陷区列表 写入以簇为单位将数据记录在上面的所述光盘上,该记录方法包括以下步 骤:

生成结构信息,所述结构信息包括多条位置信息,所述多条位置信息 表明每个都包括所述缺陷区列表一部分的多个簇的簇位置;以及

将生成的所述结构信息与所述缺陷区列表一起写入所述一次写入式光 盘的临时缺陷管理区中,其中

所述临时缺陷管理区有一个部分,在其中按照以下顺序排列所述缺陷 区列表的多个部分:

(1)缺陷区列表里在初始写入中成功写入的一部分;

(2)缺陷区列表里在重试写入中成功写入的一部分;以及

(3)缺陷区列表里最后一簇包括所述结构信息的一部分。

6.如权利要求5所述的记录方法,还包括以下步骤:

在已经写入缺陷区列表的每一部分时,验证缺陷区列表的每一部分, 其中

如果写入有缺陷区列表一部分的簇A被验证为缺陷簇,则该写入步骤 进行重试,以将簇A中的缺陷区列表的所述部分写入簇B中,并且

所述临时缺陷管理区具有缺陷区列表的第(2)部分。

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