[发明专利]分离放大器与输出端的显示单元的驱动电路及其控制方法无效
| 申请号: | 200810087461.1 | 申请日: | 2008-03-28 |
| 公开(公告)号: | CN101320548A | 公开(公告)日: | 2008-12-10 |
| 发明(设计)人: | 松居忠义 | 申请(专利权)人: | 恩益禧电子股份有限公司 |
| 主分类号: | G09G3/36 | 分类号: | G09G3/36;G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 关兆辉;陆锦华 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 分离 放大器 输出 显示 单元 驱动 电路 及其 控制 方法 | ||
1.技术领域
本发明涉及一种显示单元的驱动电路及其测试方法,特别涉及包括开关的显示单元的驱动电路及其测试方法,用于将输出电路中的放大器的输出与输出端分离。
2.背景技术
如图4所示,作为相关技术,用作点阵显示的液晶显示器包括:液晶显示器面板101、数据驱动电路102、扫描驱动电路103、电源电路104和控制电路105。
在图4中的液晶显示器面板101包括:横向布置和垂直延伸的数据线106和垂直布置和横向延伸的扫描线107。每单个像素具有TFT108、像素电容109和液晶元件110。TFT 108的栅极端子与扫描线107连接,并且其源极(漏极)端子分别与数据线106连接。TFT 108的漏极(源极)端子分别与像素电容109和液晶元件110连接。在没有连接到TFT 108的那一侧的液晶元件110和像素电容109的端子111连接到例如未示出的公共电极。
数据驱动电路102根据数字图像信号(此后,称为数据)通过输出模拟信号电压来驱动数据线106。扫描驱动电路103通过输出TFT108的选择/非选择电压来驱动扫描线107。控制电路105通过扫描驱动电路103和数据驱动电路102控制驱动定时。电源电路104提供电源电压到用于输出模拟信号电压的数据驱动电路102和用于输出选择/非选择电压的扫描驱动电路103。如将要在下面描述的,本发明与数据驱动电路102相关。
在许多情况下,数据驱动电路102具有由半导体集成电路器件组成的多个驱动电路。例如,在液晶面板分辩率是XGA(1024×768像素:1个像素包括R(红色)、G(绿色)和B(蓝色)3点)的情况下,数据驱动电路102包括八块,且一块共享128像素的显示。
图5示出了作为相关技术的驱动电路1的方框图,而图6是如图5所示的输入到总驱动电路1的每一个信号的时序图。驱动电路1共享每块m个像素的显示,因此它输出S1到Sn的信号到n块=m×3点的数据线106。为了简化描述,根据下列情况给出描述。驱动电路1以等于S1到Sn信号的一个输出,即,以等同于1个像素的1点的数据的位宽连续地接收数据。驱动电路1包括移位寄存器2、数据寄存器3、数据锁存电路4、电平转换器5、D/A转换器6和输出电路7。移位寄存器2的输出被级联输出到下一级的驱动电路。
移位寄存器2具有n级寄存器,在此提供移位开始脉冲和时钟。在时钟定时处顺序的对开始脉冲进行移位,以便如图6所示变成移位脉冲(SP1)到移位脉冲(SPn)。
数据寄存器3具有n级寄存器,在此将数据并联地提供给每一个寄存器。每一个寄存器顺序地在下降沿定时保持数据,例如,在由移位寄存器2提供的移位脉冲(SP1)到移位脉冲(SPn)的下降沿定时处。
当将数据输入到数据寄存器3的全部寄存器时,数据锁存电路4接收数据锁存信号,以便锁存由数据寄存器3的每个寄存器所保持的全部数据。由电平转换器5转换锁存数据的电平。
D/A转换器6对经电平转换的数据进行解码并且输出灰度电压。D/A转换器6从如下灰度电压中有选择地输出等同于数据的灰度电压,所述灰度电压的灰度级的数量为例如通过提供灰度基准电压而生成的64个灰度级。输出电路7放大D/A转换器6的输出并且将它输出作为输出信号S1到Sn。提供给数据锁存电路4的数据锁存信号和极性反转信号也被提供给输出电路7,以便在数据锁存信号的定时处选择并输出根据极性反转信号的极性输出。
接着,将参考图7描述输出电路7。输出电路7包括用于放大并输出根据来自D/A转换器6的极性的输出的AMP 7a、和用于控制AMP7a的输出的导通与关断的开关7b(此后,称为关断开关)。如图6所示,关断开关7b根据放大器的极性关断输出,作为从数据锁存信号脉冲的上升沿到下降沿的输出高阻抗周期。这是D/A转换器6的过渡周期,其中可以一直关断关断开关7b以使其处于高阻抗(Hi-Z)状态,直到确定电位(参看例如日本专利特开No.2004-29316)。
至于驱动电路1,为了抑制芯片尺寸的增大,已经发展了精细构图,该芯片尺寸的增大与由于显示面板尺寸的增大而导致输出数目增加有关。因为由于在芯片级和产品级中的输出电路的输出上的漏电流而导致的废品率增加,所以进行了关于漏电流故障检测的测试。当高精度地测试漏电流故障检测时,为了分离AMP 7a的输出,关断所述关断开关7b。(参看例如日本专利特开No.2000-66641)。
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