[发明专利]通过近场测试系统测试近场通信设备的方法无效
申请号: | 200810082724.X | 申请日: | 2008-02-27 |
公开(公告)号: | CN101520492A | 公开(公告)日: | 2009-09-02 |
发明(设计)人: | 郭寰;彭宏利 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G01R33/02 | 分类号: | G01R33/02;G01R29/00;G01R29/08 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 尚志峰;吴孟秋 |
地址: | 518057广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 通过 近场 测试 系统 通信 设备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种近场通讯设备的测试方法,尤其涉及一种提高近场天线发射的磁场强度和调制波形测试精度的测试方法。
背景技术
近场通讯(Near Field Communication,简称:NFC)是一种在无线射频识别技术和互联技术的基础上,相互融合演变而来的新技术,是一种短距离无线通信技术标准。NFC能够实现非接触式读卡器、非接触式智能卡和点对点通讯等功能,其工作频率为13.56MHz,工作距离最大为10cm。
目前可以通过在设备上集成NFC芯片来实现卡模拟、阅读器模拟和点对点通讯等多种功能,这种集成有NFC芯片的设备称为NFC设备。
在NFC设备的研发和生产中,除了要对设备的常规功能和性能进行测试外,还要对其NFC射频接口特性进行测试,如,当NFC设备作为初始方或目标方时,在各种通讯模式和速率下的调制波形测试、发射的磁场强度测试等。
目前国际标准ECMA 356对NFC射频接口的测试装置和测试方法进行了定义,但该方法采用的测试装置是平衡对称装置、而放在测试装置两侧的被测设备(简称DUT)与校准线圈却因DUT的NFC天线尺寸与校准线圈尺寸不一样而使测试装置两边具有不平衡性,从而影响到测试精度。另外,该标准中对调制波形的测试方法是先用测试仪器在时域测量获得相关参数,然后编写程序对时域的参数进行FFT,从而求得调制波形在频域参数值,显然该方法过于复杂且影响到测试精度。
因此,需要一种NFC设备的测试方法在不增加测试系统复杂性的前提下来提高对磁场强度和调制波形的测试精度。
发明内容
考虑到上述问题而做出本发明,为此,本发明的主要目的在于,提供一种通过近场测试系统测试近场通信设备的方法,近场测试系统包括被测设备、测试仪器、测试装置和校准线圈,其中,测试装置包括第一检测线圈、第二检测线圈、磁场生成天线、和平衡补偿电路,其特征在于,测试方法包括以下步骤:
步骤S102,通过调整平衡补偿电路上的电位计使测试装置输出端两侧的电路处于平衡状态;
步骤S104,放置被测设备和校准线圈,通过磁场生成天线向被测设备发送特定的请求信号以接收被测设备生成的应答指令,在数据传输过程中测量并记录第一磁场强度值H1和第一调制波形参数集;
步骤S106,将磁场生成天线沿水平中心轴转动180°,重复执行步骤S104,在数据传输过程中测量并记录第二磁场强度值H2和第二调制波形参数集;以及
步骤S108,根据记录的第一磁场强度值H1和第一调制波形参数集以及第二磁场强度值H2和第二调制波形参数集,计算平均磁场强度值H和平均调制波形参数集。
在步骤S102之前还可以包括以下步骤:将探针和校准线圈连接至测试仪器的射频输入端。
探针可以为高阻抗探针,并且测试仪器可在频域对信号进行测试、且支持近场通信的系列标准。
步骤S102可以包括:使磁场生成天线产生一个频率为13.56MHz射频信号;通过探针测量测试装置的输出端电压;以及根据输出端电压,通过调整电位计,使测得的电压比短路第一检测线圈或第二检测线圈后测得的电压至少低40dB。
步骤S104可以包括:DUT的NFC天线、第一检测线圈、磁场生成天线、第二检测线圈和校准线圈彼此平行,且中心共线;以及可以指定的速率发送请求信号,其中,发送请求信号的频率为13.56MHz,信号的强度在使DUT正常工作的范围内。
通过校准线圈在相对于磁场生成天线与被测设备的近场通信天线对称的位置处测量,以获得第一磁场强度值H1和第二磁场强度值H2。
通过探针在测量仪器的输出端处测量第一调制波形参数集和第二调制波形参数集
在步骤S106中,可以根据公式H=(H1+H2)/2来计算平均磁场强度值H。
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