[发明专利]通过近场测试系统测试近场通信设备的方法

权利要求书

1.一种通过近场测试系统测试近场通信设备的方法，所述近场测试系统包括被测设备、测试仪器、测试装置和校准线圈，其中，所述测试装置包括磁场生成天线和平衡补偿电路，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：

步骤S102，通过调整所述平衡补偿电路上的电位计使测试装置输出端两侧的电路处于平衡状态；

步骤S104，放置所述被测设备和校准线圈，通过所述磁场生成天线向所述被测设备发送特定的请求信号以接收所述被测设备生成的应答指令，在数据传输过程中测量并记录第一磁场强度值H1和第一调制波形参数集

步骤S106，将所述磁场生成天线沿水平中心轴转动180°，重复执行所述步骤S104，在数据传输过程中测量并记录第二磁场强度值H2和第二调制波形参数集以及

步骤S108，根据记录的所述第一磁场强度值H1和所述第一调制波形参数集以及所述第二磁场强度值H2和所述第二调制波形参数集计算平均磁场强度值H和平均调制波形参数集。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，在所述步骤S102之前还包括以下步骤：将所述校准线圈和探针连接至所述测试仪器。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于，所述探针为高阻抗探针，并且所述测试仪器可在频域对信号进行测试、且支持近场通信的系列标准，所述测试装置还包括第一检测线圈和第二检测线圈。

4.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，所述步骤S102包括：

使所述磁场生成天线产生一个频率为13.56MHz的射频信号；

通过所述探针测量所述测试装置的输出端电压；以及

根据所述输出端电压，通过调整所述平衡补偿电路中的电位计，使测得的电压比短路所述第一检测线圈或所述第二检测线圈后测得的电压至少低40dB。

5.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，在所述步骤S104还包括：

所述被测设备的近场通信天线、所述第一检测线圈、所述磁场生成天线、所述第二检测线圈、和所述校准线圈彼此平行，且中心共线；以及

以指定速率发送所述特定的请求信号，

其中，发送所述特定的请求信号的频率为13.56MHz，所述请求信号的强度在使所述被测设备正常工作的范围内。

6.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，通过所述校准线圈在相对于所述磁场生成天线与所述被测设备的近场通信天线对称的位置处测量，以获得所述第一磁场强度值H1和所述第二磁场强度值H2。

7.根据权利要求3所述的测试方法，其特征在于，通过所述探针在所述测试装置的输出端处测量所述第一调制波形参数集和所述第二调制波形参数集。

8.根据权利要求6所述的测试方法，其特征在于，在所述步骤S106中，根据公式H＝(H1+H2)/2来计算所述平均磁场强度值H。

9.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于，在所述步骤S106中，根据公式X‾=(X1‾+X2‾)/2]]>来计算所述平均调制波形参数集。

10.根据权利要求8或9所述的测试方法，其特征在于，在所述步骤S106之后，比较所述平均磁场强度与预期的磁场强度，以及比较所述平均负载调制波形与预期的负载调制波形，并根据比较结果判断所述被测设备是否通过测试。