[发明专利]电光装置、半导体器件、显示装置及具备其的电子设备

说明书

技术领域

本发明，例如，涉及电光装置、半导体器件、显示装置及具备其的电子设备。

背景技术

近年来，在显示装置上装载光传感器功能，通过测定外光照度对辉度等进行调整而谋求消耗电力降低、像质提高的技术的开发正在进展(例如专利文献1)。作为光传感器可举出薄膜晶体管、PIN二极管、PN二极管等。受光部不管在哪种情况下都为硅薄膜，为了不使制造上的成本增大，优选以与构成显示的开关元件的硅薄膜同一制造工序所制造。此时，所谓外光指所有种类的环境光，即日光、荧光灯、白炽灯泡、LED的光等，并要求相对于这些全部作为光传感器检测正确的照度。

【专利文献1】美国专利第5831693号说明书

发明内容

相对于日光总是为一定的光量，采用AC电源类型的人工光大多以一定周期反复闪烁，尤其在辉光放电型荧光灯成为主要的环境光的情况下，以100Hz或120Hz的闪烁显著，光传感器受此影响，不能正确地进行照度的检测。本发明，实现即使在有以100Hz或120Hz的闪烁的环境下也能够高精度地进行照度检测的电光装置。

本发明，为电光装置，其具备有：在第1(在实施方式中，为有源矩阵基板101)及第2基板(在实施方式中，为对向基板912)间夹持电光物质(在实施方式中，为向列液晶材料922)的形成有显示区域的面板(在实施方式中，为液晶面板911)，和设置于前述第1或第2基板上、对前述面板的周围光的照度进行检测的光检测部(在实施方式中，为检测电路360、受光传感器350P)；其特征为：前述光检测部，隔开预定的时间间隔(为RST信号的周期TR)，进行多次检测工作；前述预定的时间间隔设定为除了1/100秒或1/120秒的整数倍或接近于它们的值以外的值。若如此地进行设定，则即使在有以100Hz或120Hz的闪烁的环境下，照度检测的精度也因短时间、少次数的采样而提高。

本发明，为半导体器件，其特征在于，具备：形成于基板上、用于对前述基板周边的外光照度进行测定的光传感器(受光传感器350P)，和连接于前述光传感器而对应于前述外光照度进行输出的检测电路(在实施方式中，为检测电路360)；前述检测电路，基于来自前述光传感器的输入多次进行前述外光照度检测工作；若设前述多次检测工作的第1检测工作、与继前述第1检测工作所进行的第2检测工作的时间间隔为T1，则前述时间间隔T1设定为除了1/100秒或1/120秒的整数倍及接近于它们的值以外的值。若如此地进行设定，则即使在有以100Hz或120Hz的闪烁的环境下，照度检测的精度也因短时间、少次数的采样而提高。更具体地为以下半导体器件：前述时间间隔T1，当设n为任意的整数时，设定为1/100秒的(n+0.5)倍、或1/120秒的(n+0.5)倍、或二者的中间值；进而为具有多次对前述检测电路的输出采样、进行统计处理的电路(在实施方式中，为中央运算电路781)的半导体器件。若如此地进行设定，则以最少2次的采样而使精度显著提高。

进而本发明，为半导体器件，其特征为：若设前述第2检测工作、与继前述第2检测工作所进行的第3检测工作的时间间隔为T2，则前述时间间隔T1与前述时间间隔T2互不相同。通过如此地使检测间隔不为一定，能够对应于所有的外光的闪烁周期。

进而为一种半导体器件，其特征为：前述光传感器为将前述外光照度变换成电流的元件；前述检测电路是：在每次前述检测周期的开始将连接有前述光传感器的节点的一端复位成初始电位，通过对前述节点的电位变化进行检测而进行前述检测工作的电路。如此的检测电路即使来自光传感器的输出电流微弱也可以以高精度进行检测，但是因为需要一定的检测工作期间，所以容易受外光的闪烁的影响，适合应用本实施例。

进而本发明为以：前述光传感器为采用了薄膜多晶硅的PIN结二极管或PN结二极管为特征的半导体器件。如此的光传感器可以低成本地制造于液晶显示装置上，但是因为光电流效率低，所以适合应用本实施例。

而且本发明为采用了这些半导体器件的显示装置，和采用了该显示装置的电子设备。因为在所有的环境下内置高精度的光传感器，所以能够提供即使在室内也能适当地对像质、辉度进行调整，可视性高、消耗电力少而电池驱动时间长的装置。并且，此时，若是显示的帧周期为前述时间间隔T1的整数倍的显示装置，则信号生成容易而成本低廉。

附图说明

图1是本发明的实施例中的液晶显示装置910的立体图。

图2是本发明的第1实施例中的有源矩阵基板101的构成图。