[发明专利]一种同步反射分布光度计有效

专利信息
申请号: 200810061698.2 申请日: 2008-05-26
公开(公告)号: CN101592519A 公开(公告)日: 2009-12-02
发明(设计)人: 潘建根 申请(专利权)人: 杭州远方光电信息有限公司
主分类号: G01J1/04 分类号: G01J1/04;G01M11/02
代理公司: 杭州杭诚专利事务所有限公司 代理人: 林宝堂
地址: 310053浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 同步 反射 分布 光度计
【权利要求书】:

1.一种同步反射分布光度计,包括第一基座(1)和第二基座(2);第一基座(1)上设有水平的转动中心线(3),在第一基座(1)上与转动中心线(3)同轴设有固定轴(4),灯臂(5)一端与固定轴(4)相连,灯臂(5)的另一端设有用于连接被测光源(6)的垂直转轴(7),在第一基座(1)上设有绕水平转动中心线(3)旋转的第一转轴(9),第一转轴(9)一端固定连接转臂(10),第一光学反射镜(11)安装在转臂(10)的一端,第二基座(2)上设置有与转动中心线(3)重合并与第一转轴(9)同步旋转的第二转轴(30);其特征在于:第二转轴(30)的一端与镜架(36)的一端固定连接,镜架(36)的另一端与第二光学反射镜(12)连接,第二光学反射镜(12)与转动中心线(3)成一定角度相交;第二光学反射镜(12)的对面设置有第一光学探测器(13),第一光学探测器(13)的光轴与转动中心线(3)重合;第一光学反射镜(11),第二光学反射镜(12)和第一光学探测器(13)处于如下位置关系:来自被测光源(6)并入射到第一光学反射镜(11)的光束被第一光学反射镜(11)反射后入射到第二光学反射镜(12),该光束再经第二光学反射镜(12)反射后入射到第一光学探测器(13)的受光面。

2.根据权利要求1所述的同步反射分布光度计,其特征在于:在转臂(10)上设置第二光学探测器(14),第二光学探测器(14)正对被测光源(6),第二光学探测器(14)的光轴与转动中心线(3)相交且垂直。

3.根据权利要求1或2所述的同步反射分布光度计,其特征在于:所述的第一光学探测器(13)的受光面前设置第一遮光筒(19),第一光学探测器(13)通过第一遮光筒(19)支撑;第一遮光筒(19)悬挂于天花板,或者第一遮光筒(19)通过支承臂与灯臂(5)连接,或者第一遮光筒(19)由立于地面的支架支撑。

4.根据权利要求1或2所述的同步反射分布光度计,其特征在于:在第二转轴(30)的另一端连接有第三光学探测器(39),在第二基座上设置能将第三光学探测器(39)移离测量光路并将第二光学反射镜(12)切入测量光路或者将第二光学反射镜(12)切入测量光路并将第三光学探测器(39)移离测量光路的旋转切换机构(40),旋转切换机构(40)的转动轴线与第二转轴(30)轴线垂直相交;所述的第三光学探测器(39)的光轴与转动中心线(3)成一定夹角相交;通过切换机构(40)切入且就位后的第三光学探测器(39)的受光面正对来自被测光源(6)并经第一光学反射镜(11)反射的光束。

5.根据权利要求1或2所述的同步反射分布光度计,其特征在于:在所述的第二基座(2)上设置能绕水平轴线(53)转动并与转臂同步的第三转轴(31),第三转轴(31)的一端与第三光学探测器(39)相连;第二基座(2)上还设置能将第三光学探测器(39)移离测量光路并将第二光学反射镜(12)切入测量光路或者将第二光学反射镜(12)切入测量光路并将第三光学探测器(39)移离测量光路的切换机构(40),所述的第三光学探测器(39)的光轴与第三转轴(31)的旋转水平轴线(53)成一定夹角相交;通过切换机构(40)切入第三光学探测器(39)后的水平轴线(53)与转动中心线(3)重合,所述的第三光学探测器(39)面对第一光学反射镜(11),并正对来自被测光源(6)并经第一光学反射镜(11)反射的光束。

6.根据权利要求1或2所述的同步反射分布光度计,其特征在于:在第二光学反射镜(12)前面设置第四光学探测器(45),所述第四光学探测器(45)的受光面前安装第四遮光筒(48),所述第四遮光筒(48)与支架(46)相连,所述支架(46)与可将第四光学探测器(45)切入或切出测量光路的切入机构(47)连接,当切入机构(47)将第四光学探测器(45)切入测量光路时,第四光学探测器(45)处于第二光学反射镜(12)前较近的位置,并且第四光学探测器(45)的受光面光轴与转动中心线(3)重合。

7.根据权利要求6所述的同步反射分布光度计,其特征在于:所述切入机构(47)固定在第二基座(2)上,所述的第四光学探测器(45)的支架(46)是独立的,所述的切入机构(47)为支架(46)底部的滑轮。

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